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C08000 - SEMI C80 - Tetrakis(Dimethylamino) 실란(TDMAS) 가이드
SEMI C80 - Tetrakis(Dimethylamino) 실란(TDMAS) 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩242,000
C08100 - SEMI C81 - 트리스(디메틸아미노) 실란(3DMAS) 가이드
SEMI C81 - 트리스(디메틸아미노) 실란(3DMAS) 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩242,000
C08200 - SEMI C82 - 액체 매개 입자 카운터가 있는 20~50nm 정격 액체 필터의 입자 제거 성능 테스트 방법
SEMI C82 - 액체 매개 입자 카운터가 있는 20~50nm 정격 액체 필터의 입자 제거 성능 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩242,000
C08300 - SEMI C83 - PFA 着継手で作られる融着接合部に加える引っ張り強度の試験方法
SEMI C83 - PFA 着継手で作られる融着接合部に加える引っ張り強度の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩289,000
C08300 - SEMI C83 - PFA 용접 피팅으로 만든 용접 연결부에 적용되는 인장 강도 테스트 방법
SEMI C83 - PFA 용접 피팅으로 만든 용접 연결부에 적용되는 인장 강도 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩242,000
C08400 - SEMI C84 - 사이클로펜타논 가이드
SEMI C84 - 사이클로펜타논 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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C08500 - SEMI C85 - Methyl Isobutyl Carbinol(MIBC) 가이드
SEMI C85 - Methyl Isobutyl Carbinol(MIBC) 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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C08600 - SEMI C86 - 에틸렌 글리콜 가이드
SEMI C86 - 에틸렌 글리콜 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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C08700 - SEMI C87 - 접촉 프로필로메트리에 의해 초순수 및 액체 화학물질 분배 시스템에 사용되는 폴리머 표면의 거칠기를 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI C87 - 접촉 프로필로메트리에 의해 초순수 및 액체 화학물질 분배 시스템에 사용되는 폴리머 표면의 거칠기를 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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C08800 - SEMI C88 - 1.125인치 유형 표면 실장 가스 분배 시스템용 샌드위치 부품 치수 사양
SEMI C88 - 1.125인치 유형 표면 실장 가스 분배 시스템용 샌드위치 부품 치수 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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C08900 - SEMI C89 - 유도 결합 플라즈마 - 질량 분광법(ICP-MS)을 사용한 30nm 미만 정격 액체 필터의 입자 제거 성능 테스트 방법
SEMI C89 - 유도 결합 플라즈마 - 질량 분광법(ICP-MS)을 사용한 30nm 미만 정격 액체 필터의 입자 제거 성능 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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C09000 - SEMI C90 - 액체 화학물 분배 시스템에 사용되는 퍼플루오로알콕시(PFA) 재료를 테스트하기 위한 테스트 방법 및 사양
SEMI C90 - 액체 화학물 분배 시스템에 사용되는 퍼플루오로알콕시(PFA) 재료를 테스트하기 위한 테스트 방법 및 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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C09100 - SEMI C91 - 가스 전달 구성 요소의 수분 건조 특성 결정을 위한 테스트 방법
SEMI C91 - 가스 전달 구성 요소의 수분 건조 특성 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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C09200 - SEMI C92 - 염화제이철 용액을 사용하여 부식성 가스 시스템에 사용되는 스테인리스강 표면의 임계 피팅 온도를 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI C92 - 염화제이철 용액을 사용하여 부식성 가스 시스템에 사용되는 스테인리스강 표면의 임계 피팅 온도를 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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C09300 - SEMI C93 - 초순수 시스템의 폴란드 응용 프로그램에 사용되는 이온 교환 수지의 품질 결정을 위한 가이드
SEMI C93 - 초순수 시스템의 폴란드 응용 프로그램에 사용되는 이온 교환 수지의 품질 결정을 위한 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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C09400 - SEMI C94 - 시클로헥사논 가이드
SEMI C94 - 시클로헥사논 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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C09500 - SEMI C95 - Pentakis Dimethylamino Tantalum 가이드
SEMI C95 - Pentakis Dimethylamino Tantalum 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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C09600 - SEMI C96 - 화학적 기계적 평탄화(CMP) 슬러리의 밀도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI C96 - 화학적 기계적 평탄화(CMP) 슬러리의 밀도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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C09700 - SEMI C97 - 파이프라인 가스 또는 가압 가스 실린더로 전달되는 가스의 입자 수준 결정을 위한 사양
SEMI C97 - 파이프라인 가스 또는 가압 가스 실린더로 전달되는 가스의 입자 수준 결정을 위한 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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C09800 - SEMI C98 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 입자 크기 분포(PSD) 측정 및 보고에 대한 안내서
SEMI C98 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 입자 크기 분포(PSD) 측정 및 보고에 대한 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
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C09900 - SEMI C99 - 화학적 기계적 평탄화(CMP) 슬러리 및 관련 화학물질의 전도도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI C99 - 화학적 기계적 평탄화(CMP) 슬러리 및 관련 화학물질의 전도도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩242,000
C10000 - SEMI C100 - Guide for Reporting Chemical Mechanical Planarization (CMP) Polishing Pads Hardness Used in Semiconductor Manufacturing
SEMI C100 - Guide for Reporting Chemical Mechanical Planarization (CMP) Polishing Pads Hardness Used in Semiconductor Manufacturing 할인 가격Member Price: ₩113
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C10100 - SEMI C101 - Test Method for Determining pH of Chemical Mechanical Planarization (CMP) Slurries and Related Chemicals
SEMI C101 - Test Method for Determining pH of Chemical Mechanical Planarization (CMP) Slurries and Related Chemicals 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩242,000
C10200 - SEMI C102 - Guide for Reporting Density and Porosity of Chemical Mechanical Planarization (CMP) Polishing Pads Used in Semiconductor Manufacturing
SEMI C102 - Guide for Reporting Density and Porosity of Chemical Mechanical Planarization (CMP) Polishing Pads Used in Semiconductor Manufacturing 할인 가격Member Price: ₩113
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