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3D00800 - SEMI 3D8 - 3DS-IC 一時的ボンドデボンド (TBDB) プロセスで 300 mm キャリア ウェーハとして使用するシリコン ウェーハを記述するためのガイド
SEMI 3D8 - 3DS-IC 一時的ボンドデボンド (TBDB) プロセスで 300 mm キャリア ウェーハとして使用するシリコン ウェーハを記述するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C04900 - SEMI C49 - トリメチルホウ酸のガイド
SEMI C49 - トリメチルホウ酸のガイド セール価格Member Price: ¥135
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C04700 - SEMI C47 - トランス 1,2 ジクロロエチレンのガイド
SEMI C47 - トランス 1,2 ジクロロエチレンのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C03200 - SEMI C32 - メチルエチルケトンの仕様
SEMI C32 - メチルエチルケトンの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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C04200 - SEMI C42 - 水酸化ナトリウムペレットの仕様
SEMI C42 - 水酸化ナトリウムペレットの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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C00348 - SEMI C3.48 - 窒素 (N2)、バルク液体、99.9994% 品質の規格
SEMI C3.48 - 窒素 (N2)、バルク液体、99.9994% 品質の規格 セール価格Member Price: ¥113
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C01000 - SEMI C10 - MDL（定量下限値）決定に関するガイド
SEMI C10 - MDL（定量下限値）決定に関するガイド セール価格Member Price: ¥270
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D05400 - SEMI D54 - FPD生産における基板管理(SMS-FPD)のための仕様
SEMI D54 - FPD生産における基板管理(SMS-FPD)のための仕様 セール価格Member Price: ¥135
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C04500 - SEMI C45 - オルトケイ酸テトラエチル (TEOS) の仕様およびガイド
SEMI C45 - オルトケイ酸テトラエチル (TEOS) の仕様およびガイド セール価格Member Price: ¥113
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D04500 - SEMI D45 - FPDカラーフィルター用高抵抗樹脂ブラックマトリックスの抵抗試験方法
SEMI D45 - FPDカラーフィルター用高抵抗樹脂ブラックマトリックスの抵抗試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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C00327 - SEMI C3.27 - シリンダー内の三フッ化ホウ素 (BF3) の仕様、99.0% の品質
SEMI C3.27 - シリンダー内の三フッ化ホウ素 (BF3) の仕様、99.0% の品質 セール価格Member Price: ¥113
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C06100 - SEMI C61 - バーコード容器識別の仕様
SEMI C61 - バーコード容器識別の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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3D01200 - SEMI 3D12 - 低剛性ウェーハの平坦度と形状を測定するためのガイド
SEMI 3D12 - 低剛性ウェーハの平坦度と形状を測定するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C09600 - SEMI C96 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーの密度を測定するための試験方法
SEMI C96 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーの密度を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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E19700 - SEMI E197 - Specification for Large Tray Stack FOUP (LTSF)
SEMI E197 - Specification for Large Tray Stack FOUP (LTSF) セール価格Member Price:
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T02700 - SEMI T27 - Specification for Traceability Identification Label of Component Parts
SEMI T27 - Specification for Traceability Identification Label of Component Parts セール価格Member Price:
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T02600 - SEMI T26 - Specification for Electronic Supply Chain Traceability Using Distributed Ledger Technology
SEMI T26 - Specification for Electronic Supply Chain Traceability Using Distributed Ledger Technology セール価格Member Price:
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M09500 - SEMI M95 - Test Method for Net Carrier Density and Resistivity of Silicon Epitaxial Layer by Capacitance-Voltage Measurements with an Evaporated Metal Schottky Diode
SEMI M95 - Test Method for Net Carrier Density and Resistivity of Silicon Epitaxial Layer by Capacitance-Voltage Measurements with an Evaporated Metal Schottky Diode セール価格Member Price:
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E19600 - SEMI E196 - Guide for Equipment Edge Data Governance
SEMI E196 - Guide for Equipment Edge Data Governance セール価格Member Price:
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E19500 - SEMI E195 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components
SEMI E195 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components セール価格Member Price:
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E19400 - SEMI E194 - Guide to Using a Liquid Particle Counter to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components and Coupons
SEMI E194 - Guide to Using a Liquid Particle Counter to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components and Coupons セール価格Member Price:
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M09400 - SEMI M94 - Specification for Silicon Carbide Engineered Substrates
SEMI M94 - Specification for Silicon Carbide Engineered Substrates セール価格Member Price:
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E19300 - SEMI E193 - Specification for 300 mm Film Frame FOUP (FFF)
SEMI E193 - Specification for 300 mm Film Frame FOUP (FFF) セール価格Member Price:
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MS01500 - SEMI MS15 - Guide to MEMS Manufacturing Readiness Levels
SEMI MS15 - Guide to MEMS Manufacturing Readiness Levels セール価格Member Price:
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