SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

상품 1581개

HB00400 - SEMI HB4 - 고휘도 LED 제조 장비용 통신 인터페이스 사양(HB-LED ECI)
SEMI HB4 - 고휘도 LED 제조 장비용 통신 인터페이스 사양(HB-LED ECI) 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
MF153000 - SEMI MF1530 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 편평도, 두께 및 전체 두께 편차 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1530 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 편평도, 두께 및 전체 두께 편차 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
M07800 - SEMI M78 - 대량 제조에서 130nm ~ 22nm 세대를 위한 패턴이 없는 실리콘 웨이퍼의 나노토포그래피 결정을 위한 가이드
SEMI M78 - 대량 제조에서 130nm ~ 22nm 세대를 위한 패턴이 없는 실리콘 웨이퍼의 나노토포그래피 결정을 위한 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
M01300 - SEMI M13 - 실리콘 웨이퍼의 영숫자 마킹 사양
SEMI M13 - 실리콘 웨이퍼의 영숫자 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
MF039700 - SEMI MF397 - 2점 프로브를 사용한 실리콘 바의 비저항 테스트 방법
SEMI MF397 - 2점 프로브를 사용한 실리콘 바의 비저항 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
MF072300 - SEMI MF723 - 붕소 도핑, 인 도핑 및 비소 도핑 실리콘에 대한 비저항과 도펀트 또는 캐리어 밀도 간 변환 실습
SEMI MF723 - 붕소 도핑, 인 도핑 및 비소 도핑 실리콘에 대한 비저항과 도펀트 또는 캐리어 밀도 간 변환 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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M05500 - SEMI M55 - 연마된 단결정 실리콘 카바이드 웨이퍼 사양
SEMI M55 - 연마된 단결정 실리콘 카바이드 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
M03500 - SEMI M35 - 자동 검사로 감지되는 실리콘 웨이퍼 표면 특징에 대한 사양 개발 가이드
SEMI M35 - 자동 검사로 감지되는 실리콘 웨이퍼 표면 특징에 대한 사양 개발 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF037400 - SEMI MF374 - 단일 구성 절차로 인라인 4점 프로브를 사용하여 실리콘 에피택셜, 확산, 폴리실리콘 및 이온 주입 층의 시트 저항 테스트 방법
SEMI MF374 - 단일 구성 절차로 인라인 4점 프로브를 사용하여 실리콘 에피택셜, 확산, 폴리실리콘 및 이온 주입 층의 시트 저항 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
G08300 - SEMI G83 - 제품 패키지의 바코드 마킹 사양
SEMI G83 - 제품 패키지의 바코드 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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MF139200 - SEMI MF1392 - 수은 ​​프로브를 사용한 커패시턴스-전압 측정을 통해 실리콘 웨이퍼의 순 캐리어 밀도 프로파일을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI MF1392 - 수은 ​​프로브를 사용한 커패시턴스-전압 측정을 통해 실리콘 웨이퍼의 순 캐리어 밀도 프로파일을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M06400 - SEMI M64 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반절연(SI) 갈륨 비소 단결정의 EL2 딥 도너 농도에 대한 테스트 방법
SEMI M64 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반절연(SI) 갈륨 비소 단결정의 EL2 딥 도너 농도에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M05200 - SEMI M52 - 130nm ~ 5nm 기술 세대를 위한 실리콘 웨이퍼용 스캐닝 표면 검사 시스템 지정 가이드
SEMI M52 - 130nm ~ 5nm 기술 세대를 위한 실리콘 웨이퍼용 스캐닝 표면 검사 시스템 지정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF181000 - SEMI MF1810 - 실리콘 웨이퍼에서 우선적으로 에칭되거나 장식된 표면 결함을 계산하기 위한 테스트 방법
SEMI MF1810 - 실리콘 웨이퍼에서 우선적으로 에칭되거나 장식된 표면 결함을 계산하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M00800 - SEMI M8 - 연마된 단결정 실리콘 테스트 웨이퍼 사양
SEMI M8 - 연마된 단결정 실리콘 테스트 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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G09000 - SEMI G90 - 테스트 및 패키징 프로세스에 사용되는 300mm 웨이퍼 코인 스택 유형 배송 컨테이너 사양
SEMI G90 - 테스트 및 패키징 프로세스에 사용되는 300mm 웨이퍼 코인 스택 유형 배송 컨테이너 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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F11000 - SEMI F110 - 액체 필터의 단분산 폴리스티렌 라텍스(PSL) 문제에 대한 테스트 방법
SEMI F110 - 액체 필터의 단분산 폴리스티렌 라텍스(PSL) 문제에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
G06400 - SEMI G64 - 완전 도금 통합 회로 리드프레임(Au, Ag, Cu, Ni, Pd/Ni, Pd) 사양
SEMI G64 - 완전 도금 통합 회로 리드프레임(Au, Ag, Cu, Ni, Pd/Ni, Pd) 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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F02400 - SEMI F24 - 등급 10/0.2 불활성 특수 가스의 입자 농도 사양
SEMI F24 - 등급 10/0.2 불활성 특수 가스의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
MF004200 - SEMI MF42 - 외부 반도체 재료의 전도도 유형 테스트 방법
SEMI MF42 - 외부 반도체 재료의 전도도 유형 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
MF004300 - SEMI MF43 - 반도체 재료의 비저항 시험 방법
SEMI MF43 - 반도체 재료의 비저항 시험 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
MF084700 - SEMI MF847 - X-Ray 기법으로 단결정 실리콘 웨이퍼에서 플랫의 결정학적 방향을 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI MF847 - X-Ray 기법으로 단결정 실리콘 웨이퍼에서 플랫의 결정학적 방향을 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
MF161900 - SEMI MF1619 - 브루스터 각도에서 p-편광 방사 입사를 사용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1619 - 브루스터 각도에서 p-편광 방사 입사를 사용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
F10100 - SEMI F101 - 가스 분배 시스템에서 압력 조절기 성능을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI F101 - 가스 분배 시스템에서 압력 조절기 성능을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩240,000
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