SEMI 3D8 - 3DS-IC TBDB(Temporary Bond-Debond) 공정에서 300mm 캐리어 웨이퍼로 사용하기 위한 실리콘 웨이퍼 설명 가이드

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G04300 - SEMI G43 - 성형 플라스틱 패키지의 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법
G02500 - SEMI G25 - 팍케이지・리드抵抗の測定のための試験方法
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MF067100 - SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법
MF138900 - SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법
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G08900 - SEMI G89 - 리드프레임 스트립 크기 사양
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MF139100 - SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법
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MF138800 - SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법
M00600 - SEMI M6 - 太陽光電池用 シリコンウェーハの仕様
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M03800 - SEMI M38 - 광택 재생 실리콘 웨이퍼 사양
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M06200 - SEMI M62 - 실리콘 에피택시 웨이퍼 사양
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MF039100 - SEMI MF391 - 정상 상태 표면 광전압 측정에 의한 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이 테스트 방법
HB00800 - SEMI HB8 - 사파이어 단결정의 방향 결정을 위한 테스트 방법
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F07000 - SEMI F70 - 가스 전달 시스템의 입자 기여 결정을 위한 테스트 방법
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