最新の規格

フィルター

並び替え:

1638 製品

G06300 - SEMI G63 - ダイ剪断強度の測定方法
SEMI G63 - ダイ剪断強度の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
HB00500 - SEMI HB5 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハ上のソーマークの測定のための試験方法
SEMI HB5 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハ上のソーマークの測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G03100 - SEMI G31 - 成形材料の研磨特性を決定するための試験方法
SEMI G31 - 成形材料の研磨特性を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08100 - SEMI G81 - 地図データ項目の仕様
SEMI G81 - 地図データ項目の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00700 - SEMI HB7 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハのうねり測定の試験方法
SEMI HB7 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハのうねり測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05600 - SEMI M56 - 測定のばらつきと偏りによる計測機器のコスト構成要素を決定するための実践
SEMI M56 - 測定のばらつきと偏りによる計測機器のコスト構成要素を決定するための実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G04900 - SEMI G49 - プラスチック成形プリフォームの仕様
SEMI G49 - プラスチック成形プリフォームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF213900 - SEMI MF2139 - 二次イオン質量分析によるシリコン基板の窒素濃度測定の試験方法
SEMI MF2139 - 二次イオン質量分析によるシリコン基板の窒素濃度測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07500 - SEMI G75 - リードフレームテープの特性の標準試験方法
SEMI G75 - リードフレームテープの特性の標準試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08700 - SEMI G87 - 300 mm ウェーハ用プラスチック テープ フレームの仕様
SEMI G87 - 300 mm ウェーハ用プラスチック テープ フレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G05200 - SEMI G52 - 半導体リードフレーム上のイオン汚染測定の試験方法
SEMI G52 - 半導体リードフレーム上のイオン汚染測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G05700 - SEMI G57 - リードフレーム用語の標準化ガイド
SEMI G57 - リードフレーム用語の標準化ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G05900 - SEMI G59 - リードフレームインターリーフィング上のイオン汚染およびインターリーフィングからリードフレームに移動した汚染の測定のための試験方法
SEMI G59 - リードフレームインターリーフィング上のイオン汚染およびインターリーフィングからリードフレームに移動した汚染の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07300 - SEMI G73 - ワイヤボンディングの引っ張り強度の試験方法
SEMI G73 - ワイヤボンディングの引っ張り強度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02200 - SEMI F22 - バルクおよび特殊ガス供給システムのガイド
SEMI F22 - バルクおよび特殊ガス供給システムのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09700 - SEMI G97 - 薄いチップの処理に使用される粘着トレイの仕様
SEMI G97 - 薄いチップの処理に使用される粘着トレイの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02600 - SEMI F26 - グレード 10/0.2 有毒特殊ガスの粒子濃度の仕様
SEMI F26 - グレード 10/0.2 有毒特殊ガスの粒子濃度の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00200 - SEMI HB2 - HB-LED デバイスの製造に使用するための 150 mm オープンプラスチックおよび金属ウェーハカセットの仕様
SEMI HB2 - HB-LED デバイスの製造に使用するための 150 mm オープンプラスチックおよび金属ウェーハカセットの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M07000 - SEMI M70 - パーシャルサイト平坦度を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M70 - パーシャルサイト平坦度を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
HB00300 - SEMI HB3 - 150 mm HB-LED ロード ポートのメカニカル インターフェイスの仕様
SEMI HB3 - 150 mm HB-LED ロード ポートのメカニカル インターフェイスの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF136600 - SEMI MF1366 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープシリコン基板の酸素濃度測定の試験方法
SEMI MF1366 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープシリコン基板の酸素濃度測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07000 - SEMI G70 - プラスチックパッケージリードフレーム測定用装置とリードフレームサポート具の基準
SEMI G70 - プラスチックパッケージリードフレーム測定用装置とリードフレームサポート具の基準 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G01800 - SEMI G18 - エッチングされたリードフレームの製造に使用される集積回路リードフレーム材料の仕様
SEMI G18 - エッチングされたリードフレームの製造に使用される集積回路リードフレーム材料の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04400 - SEMI M44 - シリコン内の格子間酸素の変換係数ガイド
SEMI M44 - シリコン内の格子間酸素の変換係数ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
View All