SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

Historical Individual Standards

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936 製品

G02400 - SEMI G24 - パッケージ・リードの間および付加容量の測定のための容量の試験方法
SEMI G24 - パッケージ・リードの間および付加容量の測定のための容量の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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M04600 - SEMI M46 - ECV法によりエピタキシァル層内のキャリア密度を測定するための試験方法
SEMI M46 - ECV法によりエピタキシァル層内のキャリア密度を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M06800 - SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M06000 - SEMI M60 - シリコンウェーハ評価のためのSiO2の経時絶縁破壊特性の試験方法
SEMI M60 - シリコンウェーハ評価のためのSiO2の経時絶縁破壊特性の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G03800 - SEMI G38 - 集積回路パッケージの静止空気および強制空気接合部から周囲までの熱抵抗測定の試験方法
SEMI G38 - 集積回路パッケージの静止空気および強制空気接合部から周囲までの熱抵抗測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06400 - SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトルによる絶縁（SI）ガリウムヒ素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法
SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトルによる絶縁（SI）ガリウムヒ素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03500 - SEMI M35 - 自動検査により検出されるシリコンウェーハ表面特性の仕様を開発するためのガイド
SEMI M35 - 自動検査により検出されるシリコンウェーハ表面特性の仕様を開発するためのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G05100 - SEMI G51 - プラスチックモールド・クアッドフラットパック・リードフレームのための仕様
SEMI G51 - プラスチックモールド・クアッドフラットパック・リードフレームのための仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M05400 - SEMI M54 - 半絶縁性（SI）GaAs材料のパラメータのガイド
SEMI M54 - 半絶縁性（SI）GaAs材料のパラメータのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01600 - SEMI M16 - 多結晶シリコンの仕様
SEMI M16 - 多結晶シリコンの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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SEMIViews - リーダーSEMIViews - リーダー
SEMIViews リーダー セール価格Member Price: ¥875
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3D00200 - SEMI 3D2 - 3DS-IC アプリケーション用のガラスキャリアウェーハの仕様
SEMI 3D2 - 3DS-IC アプリケーション用のガラスキャリアウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
3D00300 - SEMI 3D3 - テープフレーム上の 300 mm 薄型シリコンウェーハ用マルチウェーハ輸送および保管コンテナのガイド
SEMI 3D3 - テープフレーム上の 300 mm 薄型シリコンウェーハ用マルチウェーハ輸送および保管コンテナのガイド セール価格Member Price: ¥150
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SEMIViews - Reader PlusSEMIViews - Reader Plus
SEMIViews Reader Plus セール価格Member Price: ¥1,560
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3D00400 - SEMI 3D4 - 貼り合わせたウェーハスタックの厚さ、総厚さ変動（TTV）、反り、反り/反り、および平坦度を測定するための計測ガイド
SEMI 3D4 - 貼り合わせたウェーハスタックの厚さ、総厚さ変動（TTV）、反り、反り/反り、および平坦度を測定するための計測ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
3D00100 - SEMI 3D1 - スルーシリコンビア（TSV）の幾何学的計測のための用語
SEMI 3D1 - スルーシリコンビア（TSV）の幾何学的計測のための用語 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥38,100 JPY
FH00600 - SEMI FH6 - Terminology for Flexible Hybrid Electronics (FHE)
SEMI FH6 - Terminology for Flexible Hybrid Electronics (FHE) セール価格Member Price:
Non-Member Price: ¥31,900
A00100 - SEMI A1 - Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI)
SEMI A1 - Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI) セール価格 Member Price :