SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

Historical Individual Standards

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936 製品

P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)によるポジティブ・フォトレジスト・金属イオンフリー(MIF)における鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、およびニッケルの測定
C0700 - SEMI C70 - 六フッ化タングステン(WF6)の仕様
SEMI C70 - 六フッ化タングステン(WF6)の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G05800 - SEMI G58 - Cerquad パッケージ構造の仕様
SEMI G58 - Cerquad パッケージ構造の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02300 - SEMI F23 - グレード10/0.2 引火性特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F23 - グレード10/0.2 引火性特殊ガスの粒子に関する仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F07100 - SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法
SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥38,100 JPY
G03200 - SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン
SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01300 - SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のナトリウムとカリウムの測定
P02400 - SEMI P24 - CD 計測手順
SEMI P24 - CD 計測手順 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08900 - SEMI G89 - リードフレームのストリップ寸法の規格
SEMI G89 - リードフレームのストリップ寸法の規格 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、及びニッケルの測定
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