SEMI 3D8 - 3DS-IC TBDB(Temporary Bond-Debond) 공정에서 300mm 캐리어 웨이퍼로 사용하기 위한 실리콘 웨이퍼 설명 가이드

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P02500 - SEMI P25 - 초점 심도 및 최적 초점 측정 사양
SEMI P25 - 초점 심도 및 최적 초점 측정 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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F04000 - SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法
SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法 할인 가격Member Price: ₩135
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G01900 - SEMI G19 - 에칭으로 생성된 딥 리드프레임 사양
SEMI G19 - 에칭으로 생성된 딥 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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G07200 - SEMI G72 - 볼 그리드 어레이 설계 라이브러리 사양
SEMI G72 - 볼 그리드 어레이 설계 라이브러리 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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C02800 - SEMI C28 - 푹화케이素酸の仕様
SEMI C28 - 푹화케이素酸の仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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C05200 - SEMI C52 - 특수 가스의 貯蔵寿命に関する仕様
SEMI C52 - 특수 가스의 貯蔵寿命に関する仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P02800 - SEMI P28 - 집적 회로 제조용 오버레이 계측 테스트 패턴 사양
SEMI P28 - 집적 회로 제조용 오버레이 계측 테스트 패턴 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MS00700 - SEMI MS7 - 전자 장치 패키지에 대한 미세유체 인터페이스 사양
SEMI MS7 - 전자 장치 패키지에 대한 미세유체 인터페이스 사양 정상 가격₩451,000 KRW 할인 가격₩290,000 KRW
G03200 - SEMI G32 - 캡슐화되지 않은 열 테스트 칩에 대한 지침
SEMI G32 - 캡슐화되지 않은 열 테스트 칩에 대한 지침 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포지티브・포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液における鉄,亜鉛,카르시움,마그네시움,銅, 호우, 아르미니움, 크롬, 만간, 오야비닉케르노測定
F02300 - SEMI F23 - 그레이드10/0.2 화성특유가스의 진자에 대응하는 사양
SEMI F23 - 그레이드10/0.2 화성특유가스의 진자에 대응하는 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
C0700 - SEMI C70 - 완전화탕스텐(WF6) 사양
SEMI C70 - 완전화탕스텐(WF6) 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P02400 - SEMI P24 - CD 계측 절차
SEMI P24 - CD 계측 절차 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01300 - SEMI P13 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트의 나트륨 및 칼륨 측정
G05800 - SEMI G58 - Cerquad 패키지 구조 사양
SEMI G58 - Cerquad 패키지 구조 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000