SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

Historical Individual Standards

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P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포지티브・포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液における鉄，亜鉛，카르시움，마그네시움，銅， 호우, 아르미니움, 크롬, 만간, 오야비닉케르노測定
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포지티브・포트레지스트・메타루이온후리(MIF)現像液における鉄，亜鉛，카르시움，마그네시움，銅， 호우, 아르미니움, 크롬, 만간, 오야비닉케르노測定 할인 가격Member Price: ₩135
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SEMI P13 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트의 나트륨 및 칼륨 측정 할인 가격Member Price: ₩113
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SEMI P24 - CD 계측 절차 할인 가격Member Price: ₩113
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SEMI G89 - 리드후레임의 스트립법의 설명 할인 가격Member Price: ₩135
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P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포트레지스트中の鉄，亜鉛，카르시움，magnesium，銅，ホウ素，아르미니움，크롬，만간，及비닉케르의 결정
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포트레지스트中の鉄，亜鉛，카르시움，magnesium，銅，ホウ素，아르미니움，크롬，만간，及비닉케르의 결정 할인 가격Member Price: ₩135
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SEMI 3D4 - 본딩된 웨이퍼 스택의 두께, 총 두께 변화(TTV), 보우, 워프/소리 및 평탄도를 측정하기 위한 계측 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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SEMI A1 - Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI) 할인 가격 Member Price :