SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

Historical Individual Standards

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상품 857개

MF065700 - SEMI MF657 - 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 휨 및 총 두께 변화 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF657 - 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 휨 및 총 두께 변화 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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P01600 - SEMI P16 - Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy에 의한 포지티브 포토레지스트 MIF(Metal Ion Free) 현상액의 주석 측정
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G02300 - SEMI G23 - 半導体팍케이지의 内部導体路の인다크탄스의 試験방법
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M01900 - SEMI M19 - 벌크 갈륨 비소 단결정 기판의 전기적 특성 사양
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D03400 - SEMI D34 - FPD 광조명 방식
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F03700 - SEMI F37 - 가스 供給 System構成部品の表面粗 さ parameterの算出方法
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G09900 - SEMI G99 - 웨이퍼 레벨 패키징 및 패널 레벨 패키징용 캡슐화 재료의 유동성 사양(JP 데모)
SEMI G99 - 웨이퍼 레벨 패키징 및 패널 레벨 패키징용 캡슐화 재료의 유동성 사양(JP 데모) 할인 가격Member Price:
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G09800 - SEMI G98 - 웨이퍼 레벨 패키징 및 패널 레벨 패키징용 캡슐화 재료의 열팽창 계수(CTE) 사양
SEMI G98 - 웨이퍼 레벨 패키징 및 패널 레벨 패키징용 캡슐화 재료의 열팽창 계수(CTE) 사양 할인 가격Member Price:
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G09900 - SEMI G99 - 웨이퍼 레벨 패키징 및 패널 레벨 패키징용 캡슐화 재료의 유동성 사양
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G10000 - SEMI G100 - 웨이퍼 레벨 패키징 및 패널 레벨 패키징용 캡슐화 재료의 겔 시간 사양
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