SEMI T10 - 二次元 データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法 -

Abstract

本standanardは， global Traceability Technical Committee で技術的に承認されている。現版は2012年8 月30日， global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。 2012年9月にwww.semiviews.orgおよびwww.semi.org에서 入手可能となる. 初版は2001年7月発行.

　

本standardは，二次元 データマトリクスの直接markの品質を評価する方法を定義する ことを意図する.

　

本standad は，半導体関連材料に関する二次元 データマトリクスコード直接マークに適用する評価基準，計量法方および評価報告手順を定義する。本standardを引用する適用仕様書は，特定アプリケーションの特殊な要求事項に対し,その適用範囲をさらに制限することがある.

　

참조된 SEMI 표준

없음.

Refund Policy: Due to the nature of our products, SEMI has a no refund/no exchange policy. Please make sure that you have reviewed your order prior to finalizing your purchase. All sales are final.