SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

Historical Individual Standards

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상품 857개

G05800 - SEMI G58 - Cerquad 패키지 구조 사양
SEMI G58 - Cerquad 패키지 구조 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩238,000
F02300 - SEMI F23 - 그레이드10/0.2 화성특유가스의 진자에 대응하는 사양
SEMI F23 - 그레이드10/0.2 화성특유가스의 진자에 대응하는 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩284,000
F07100 - SEMI F71 - 가스 시스템의 온도 사이크루 방식
SEMI F71 - 가스 시스템의 온도 사이크루 방식 정상 가격₩419,000 KRW 할인 가격₩284,000 KRW
G03200 - SEMI G32 - 캡슐화되지 않은 열 테스트 칩에 대한 지침
SEMI G32 - 캡슐화되지 않은 열 테스트 칩에 대한 지침 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩238,000
P01300 - SEMI P13 - 원자 흡수 분광법에 의한 포지티브 포토레지스트의 나트륨 및 칼륨 측정
P02400 - SEMI P24 - CD 계측 절차
SEMI P24 - CD 계측 절차 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩238,000
G08900 - SEMI G89 - 리드후레임의 스트립법의 설명
SEMI G89 - 리드후레임의 스트립법의 설명 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩284,000
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法(ICP)による포지티브・포트레지스트中の鉄,亜鉛,카르시움,magnesium,銅,ホウ素,아르미니움,크롬,만간,及비닉케르의 결정
M03200 - SEMI M32 - 통계 사양 가이드
SEMI M32 - 통계 사양 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩238,000
MF172400 - SEMI MF1724 - 산 추출-원자 흡수 분광법에 의한 다결정 실리콘의 표면 금속 오염 측정 방법
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