SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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G01000 - SEMI G10 - 플라스틱 패키지 리드프레임의 기계적 측정을 위한 표준 방법
SEMI G10 - 플라스틱 패키지 리드프레임의 기계적 측정을 위한 표준 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M01300 - SEMI M13 - 실리콘 웨이퍼의 영숫자 마킹 사양
SEMI M13 - 실리콘 웨이퍼의 영숫자 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF118800 - SEMI MF1188 - 짧은 기준선으로 적외선 흡수에 의한 실리콘의 격자간 산소 함량 테스트 방법
SEMI MF1188 - 짧은 기준선으로 적외선 흡수에 의한 실리콘의 격자간 산소 함량 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB00400 - SEMI HB4 - 고휘도 LED 제조 장비용 통신 인터페이스 사양(HB-LED ECI)
SEMI HB4 - 고휘도 LED 제조 장비용 통신 인터페이스 사양(HB-LED ECI) 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M06400 - SEMI M64 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반절연(SI) 갈륨 비소 단결정의 EL2 딥 도너 농도에 대한 테스트 방법
SEMI M64 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반절연(SI) 갈륨 비소 단결정의 EL2 딥 도너 농도에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF008100 - SEMI MF81 - 실리콘 웨이퍼의 방사형 비저항 변화 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF81 - 실리콘 웨이퍼의 방사형 비저항 변화 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF153000 - SEMI MF1530 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 편평도, 두께 및 전체 두께 편차 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1530 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼의 편평도, 두께 및 전체 두께 편차 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M07800 - SEMI M78 - 대량 제조에서 130nm ~ 22nm 세대를 위한 패턴이 없는 실리콘 웨이퍼의 나노토포그래피 결정을 위한 가이드
SEMI M78 - 대량 제조에서 130nm ~ 22nm 세대를 위한 패턴이 없는 실리콘 웨이퍼의 나노토포그래피 결정을 위한 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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G08300 - SEMI G83 - 제품 패키지의 바코드 마킹 사양
SEMI G83 - 제품 패키지의 바코드 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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M00800 - SEMI M8 - 연마된 단결정 실리콘 테스트 웨이퍼 사양
SEMI M8 - 연마된 단결정 실리콘 테스트 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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M03500 - SEMI M35 - 자동 검사로 감지되는 실리콘 웨이퍼 표면 특징에 대한 사양 개발 가이드
SEMI M35 - 자동 검사로 감지되는 실리콘 웨이퍼 표면 특징에 대한 사양 개발 가이드 할인 가격 Member Price : ₩113
MF037400 - SEMI MF374 - 단일 구성 절차로 인라인 4점 프로브를 사용하여 실리콘 에피택셜, 확산, 폴리실리콘 및 이온 주입 층의 시트 저항 테스트 방법
SEMI MF374 - 단일 구성 절차로 인라인 4점 프로브를 사용하여 실리콘 에피택셜, 확산, 폴리실리콘 및 이온 주입 층의 시트 저항 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05500 - SEMI M55 - 연마된 단결정 실리콘 카바이드 웨이퍼 사양
SEMI M55 - 연마된 단결정 실리콘 카바이드 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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PV04400 - SEMI PV44 - 태양광 모듈용 패키지 보호 기술 사양
SEMI PV44 - 태양광 모듈용 패키지 보호 기술 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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E05413 - SEMI E54.13 - 이더넷/IP(TM)용 센서/액추에이터 네트워크 통신 사양
SEMI E54.13 - 이더넷/IP(TM)용 센서/액추에이터 네트워크 통신 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
G05600 - SEMI G56 - 은 도금 두께 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G56 - 은 도금 두께 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF139200 - SEMI MF1392 - 수은 ​​프로브를 사용한 커패시턴스-전압 측정을 통해 실리콘 웨이퍼의 순 캐리어 밀도 프로파일을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI MF1392 - 수은 ​​프로브를 사용한 커패시턴스-전압 측정을 통해 실리콘 웨이퍼의 순 캐리어 밀도 프로파일을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M05800 - SEMI M58 - DMAを基にしたパーティクル堆積systemto proses評価에 대한 시험 방법
SEMI M58 - DMAを基にしたパーティクル堆積systemto proses評価에 대한 시험 방법 할인 가격Member Price: ₩135
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G08800 - SEMI G88 - 450mm 웨이퍼용 테이프 프레임 사양
SEMI G88 - 450mm 웨이퍼용 테이프 프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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M05200 - SEMI M52 - 130nm ~ 5nm 기술 세대를 위한 실리콘 웨이퍼용 스캐닝 표면 검사 시스템 지정 가이드
SEMI M52 - 130nm ~ 5nm 기술 세대를 위한 실리콘 웨이퍼용 스캐닝 표면 검사 시스템 지정 가이드 할인 가격 Member Price : ₩113
G04200 - SEMI G42 - 반도체 패키지의 Junction-to-Ambient 열 저항 측정을 위한 열 테스트 보드 표준화 사양
SEMI G42 - 반도체 패키지의 Junction-to-Ambient 열 저항 측정을 위한 열 테스트 보드 표준화 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G09300 - SEMI G93 - 볼 그리드 어레이 패키지용 솔더 구 크기 측정 방법
SEMI G93 - 볼 그리드 어레이 패키지용 솔더 구 크기 측정 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02400 - SEMI F24 - 등급 10/0.2 불활성 특수 가스의 입자 농도 사양
SEMI F24 - 등급 10/0.2 불활성 특수 가스의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF004300 - SEMI MF43 - 반도체 재료의 비저항 시험 방법
SEMI MF43 - 반도체 재료의 비저항 시험 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000