SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

Historical Individual Standards

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936 製品

P03500 - SEMI P35 - マイクロリソグラフィーメトロロジの用語法
SEMI P35 - マイクロリソグラフィーメトロロジの用語法 セール価格Member Price: ¥135
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G00200 - SEMI G2 - CerDIP パッケージ用金属リードフレームの仕様
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F05500 - SEMI F55 - マスフローコールの耐腐食性を求めるための試験方法
SEMI F55 - マスフローコールの耐腐食性を求めるための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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P00100 - SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板
SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板 セール価格Member Price: ¥135
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F02100 - SEMI F21 - きれいな環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類
SEMI F21 - きれいな環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類 セール価格Member Price: ¥135
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D03800 - SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド
SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド セール価格Member Price: ¥135
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G05600 - SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法
SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法 セール価格Member Price: ¥135
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M01400 - SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様）
SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様） セール価格Member Price: ¥135
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C00340 - SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4）、99.997%品質の仕様
SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4）、99.997%品質の仕様 セール価格Member Price: ¥135
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G05900 - SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染の測定方法
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SEMIViews - Reader PlusSEMIViews - Reader Plus
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3D00100 - SEMI 3D1 - スルーシリコンビア（TSV）の幾何学的計測のための用語
SEMI 3D1 - スルーシリコンビア（TSV）の幾何学的計測のための用語 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥38,100 JPY
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A00100 - SEMI A1 - Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI)
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