SEMI 3D8 - 3DS-IC 一時的ボンドデボンド (TBDB) プロセスで 300 mm キャリア ウェーハとして使用するシリコン ウェーハを記述するためのガイド

Browse Latest METIS Courses

1910 製品

F00700 - SEMI F7 - フルオロカーボン材料で作られたチューブ継手接続の引張強度を決定する試験方法
S02200 - SEMI S22 - 半導体製造装置の電気設計のための安全に関するガイドライン
F00800 - SEMI F8 - 引張力を受けたときのフルオロカーボン材料製のチューブ継手接続部のシール能力を評価するための試験方法
F09500 - SEMI F95 - 1.5インチタイプ4ファスナー構造サーフェスマウント型ガス供給システム用3ポートコンポーネントの寸法のための仕様
S02900 - SEMI S29 - フッ素化温室効果ガス (F-GHG) 排出の特性評価と削減のためのガイド
F10000 - SEMI F100 - メートル法PFAチューブ用ダイヤフラムバルブの最小流量係数の適合性試験方法
F01000 - SEMI F10 - フッ素樹脂製チューブに損傷を与えるために必要な内部圧力を決めるためのテスト方法
F09300 - SEMI F93 - 1.5 インチ タイプ 4 つのファスナー構成の表面実装ガス分配システム用の 1 ポート コンポーネントの寸法の仕様
E12500 - SEMI E125 - 装置自己記述(EqSD)の仕様
SEMI E125 - 装置自己記述(EqSD)の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F01100 - SEMI F11 - フッ素樹脂製チューブの熱的特性指標を得るための試験方法
F09200 - SEMI F92 - 1.5インチタイプ2ファスナー構造サーフェスマウント型ガス供給システム用コンパクトサイズ3ポートコンポーネントの寸法のための仕様
E12600 - SEMI E126 - 装置品質情報パラメーター(EQIP)に関する仕様
SEMI E126 - 装置品質情報パラメーター(EQIP)に関する仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F03300 - SEMI F33 - 大気圧イオン化質量分析計 (APIMS) の校正のための試験方法
SEMI F33 - 大気圧イオン化質量分析計 (APIMS) の校正のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,800
S00600 - SEMI S6 - 반도체 제조 장비 배기 환기의 EHS 가이드라인
SEMI S6 - 반도체 제조 장비 배기 환기의 EHS 가이드라인 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,800
MEMS&センサーファブレポート
MEMS&センサーファブレポート セール価格Member Price: ¥3,000
Non-Member Price: ¥1,021,300