SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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PV09200 - SEMI PV92 - 유연한 박막 태양광(PV) 모듈의 확장을 위한 테스트 방법
SEMI PV92 - 유연한 박막 태양광(PV) 모듈의 확장을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
E17900 - SEMI E179 - 프로토콜 버퍼 공통 구성요소 사양
SEMI E179 - 프로토콜 버퍼 공통 구성요소 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
3D02200 - SEMI 3D23 - 패널 레벨 패키징(PLP) 애플리케이션용 유리 캐리어 특성 사양
SEMI 3D23 - 패널 레벨 패키징(PLP) 애플리케이션용 유리 캐리어 특성 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
A00401 - SEMI A4.1 - 반도체용 테스터 이벤트 메시징(TEMS)을 위한 HTTP JSON 프로토콜 구현 사양
SEMI A4.1 - 반도체용 테스터 이벤트 메시징(TEMS)을 위한 HTTP JSON 프로토콜 구현 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
D08000 - SEMI D80 - 단기간에 높은 가스 차단성 플라스틱 필름의 수증기 투과율 측정을 위한 테스트 방법
SEMI D80 - 단기간에 높은 가스 차단성 플라스틱 필름의 수증기 투과율 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
D07900 - SEMI D79 - 플렉서블 디스플레이의 로컬 및 전체 깜박임 테스트 방법
SEMI D79 - 플렉서블 디스플레이의 로컬 및 전체 깜박임 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
PV08800 - SEMI PV88 - 惰性气體熔融红外吸收法测定光伏多晶硅中氢含量的测试方法
SEMI PV88 - 惰性气體熔融红外吸收法测定光伏多晶硅中氢含量的测试方法 할인 가격Member Price: ₩113
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A00400 - SEMI A4 - 반도체용 자동 테스트 장비 테스터 이벤트 메시징(TEMS) 사양
SEMI A4 - 반도체용 자동 테스트 장비 테스터 이벤트 메시징(TEMS) 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
MS01300 - SEMI MS13 - DRIE(Deep Reactive Ion Etching) 공정 특성화를 위한 테스트 패턴 사용 가이드
SEMI MS13 - DRIE(Deep Reactive Ion Etching) 공정 특성화를 위한 테스트 패턴 사용 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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F11500 - SEMI F115 - 초고순도 화학 물질 전달 시스템 및 부품의 젖은 표면에 존재하는 금속 원소 측정을 위한 테스트 방법
SEMI F115 - 초고순도 화학 물질 전달 시스템 및 부품의 젖은 표면에 존재하는 금속 원소 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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HB01300 - SEMI HB13 - HB-LED MOCVD 장비 통신 인터페이스용 서셉터 사양
SEMI HB13 - HB-LED MOCVD 장비 통신 인터페이스용 서셉터 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
C09900 - SEMI C99 - 화학적 기계적 평탄화(CMP) 슬러리 및 관련 화학물질의 전도도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI C99 - 화학적 기계적 평탄화(CMP) 슬러리 및 관련 화학물질의 전도도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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C09800 - SEMI C98 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 입자 크기 분포(PSD) 측정 및 보고에 대한 안내서
SEMI C98 - 반도체 제조에 사용되는 화학적 기계적 평탄화(CMP) 입자 크기 분포(PSD) 측정 및 보고에 대한 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
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F11600 - SEMI F116 - 현장 물 재사용을 지원하기 위한 반도체 제조 도구용 드레인 분리 가이드
SEMI F116 - 현장 물 재사용을 지원하기 위한 반도체 제조 도구용 드레인 분리 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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E17700 - SEMI E177 - 전자 현미경 작업 흐름에 사용되는 투과 전자 현미경(TEM) 라멜라 캐리어 사양
SEMI E177 - 전자 현미경 작업 흐름에 사용되는 투과 전자 현미경(TEM) 라멜라 캐리어 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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E18300 - SEMI E183 - RITdb(Rich Interactive Test Database) 사양
SEMI E183 - RITdb(Rich Interactive Test Database) 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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C10000 - SEMI C100 - Guide for Reporting Chemical Mechanical Planarization (CMP) Polishing Pads Hardness Used in Semiconductor Manufacturing
SEMI C100 - Guide for Reporting Chemical Mechanical Planarization (CMP) Polishing Pads Hardness Used in Semiconductor Manufacturing 할인 가격Member Price: ₩113
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E18100 - SEMI E181 - Specification for Panel FOUP for Panel Level Packaging
SEMI E181 - Specification for Panel FOUP for Panel Level Packaging 할인 가격Member Price: ₩113
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M09000 - SEMI M90 - Test Method for Bulk Micro Defect Density and Denuded Zone Width in Annealed Silicon Wafers by Optical Microscopy After Preferential Etching
SEMI M90 - Test Method for Bulk Micro Defect Density and Denuded Zone Width in Annealed Silicon Wafers by Optical Microscopy After Preferential Etching 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
C10100 - SEMI C101 - Test Method for Determining pH of Chemical Mechanical Planarization (CMP) Slurries and Related Chemicals
SEMI C101 - Test Method for Determining pH of Chemical Mechanical Planarization (CMP) Slurries and Related Chemicals 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
PV09500 - SEMI PV95 - Test Method for Metal Wrap Through Solar Cell Via Resistance
SEMI PV95 - Test Method for Metal Wrap Through Solar Cell Via Resistance 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
F11900 - SEMI F119 - Test Method for Determining the Critical Pitting Temperature of Stainless Steel Surfaces Used in Corrosive Gas Systems by Use of a Ferric Chloride Solution
SEMI F119 - Test Method for Determining the Critical Pitting Temperature of Stainless Steel Surfaces Used in Corrosive Gas Systems by Use of a Ferric Chloride Solution 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
D08100 - SEMI D81 - Test Method for Dimming Properties of Flat Panel Displays
SEMI D81 - Test Method for Dimming Properties of Flat Panel Displays 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩239,000
A00300 - SEMI A3 - Specification for Printed Circuit Board Equipment Communication Interfaces (PCBECI)
SEMI A3 - Specification for Printed Circuit Board Equipment Communication Interfaces (PCBECI) 할인 가격 Member Price : ₩225
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