SEMI A4.1 - 반도체용 테스터 이벤트 메시징(TEMS)을 위한 HTTP JSON 프로토콜 구현 사양 -

Abstract

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오늘날 자동 테스트 장비(ATE)와 관련된 반도체 테스트 작업에서는 테스트 수율, 처리량, 효율성 및 제품 품질을 개선하기 위해 실시간 데이터 분석과 실시간 ATE 입력 및 제어를 위한 데이터 사용이 증가하고 있습니다. 동시에 전 세계의 테스트 장비 및 테스트 작업은 다양한 데이터 형식을 사용합니다. ATE 공급업체, OSAT 회사, IDM 테스트 운영, 소프트웨어 제공업체 및 핸들러 장비에 상당한 고객 서비스 및 애플리케이션 엔지니어링 비용을 발생시키는 사양 및 인터페이스 요구사항. 이 사양의 목표는 테스트 셀 데이터를 수집하는 벤더 중립적인 방법을 만드는 것입니다.

이 사양은 테스트 셀과 외부 서버 간의 데이터 통신을 설명합니다.

이 사양은 테스트 셀 데이터 및 작동 조건 수집을 다룹니다.

이 사양은 사용자 지정 기능을 추가하는 방법과 함께 최소 인터페이스 요구 사항을 나타냅니다.

기본 표준 (포함)

SEMI A4 — 반도체용 자동 테스트 장비 테스터 이벤트 메시징(TEMS) 사양

참조 SEMI 표준 (별도 구매)

없음.

개정 내역

SEMI A4-0821(지정 업데이트)

SEMI A4-0421(최초 게시됨)

SEMI A4.1-0821(최초 게시됨)

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