SEMI 3D14 - Guide for Incoming/Outgoing Quality control and Testing Flow for 3DS-IC Products

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G04600 - SEMI G46 - Test Method for Thermal Transient Testing for Die Attachment Evaluation of Integrated Circuits
SEMI G46 - Test Method for Thermal Transient Testing for Die Attachment Evaluation of Integrated Circuits Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $150.00
PV09400 - SEMI PV94 - Guide for Identifying Cell Defects In Crystalline Silicon Photovoltaic (PV) Modules By Electroluminescence (EL) Imaging
SEMI PV94 - Guide for Identifying Cell Defects In Crystalline Silicon Photovoltaic (PV) Modules By Electroluminescence (EL) Imaging Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
P04700 - SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法
SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
F02600 - SEMI F26 - グレード10/0.2　有毒特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F26 - グレード10/0.2　有毒特殊ガスの粒子に関する仕様 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
MF039800 - SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum
SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
G06000 - SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法
SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
P02700 - SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメータチェックリスト
SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメータチェックリスト Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
M07600 - SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様
SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様 Regular price$360.00 USD Sale price$231.00 USD
P02100 - SEMI P21 - Guidelines for Precision and Accuracy Expression for Mask Writing Equipment
SEMI P21 - Guidelines for Precision and Accuracy Expression for Mask Writing Equipment Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
G01800 - SEMI G18 - エッチングリードフレームの製造に使用する集積回路用リードフレーム材料のためのスタンダード
SEMI G18 - エッチングリードフレームの製造に使用する集積回路用リードフレーム材料のためのスタンダード Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
P01300 - SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中におけるナトリウムとカリウムの測定
SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中におけるナトリウムとカリウムの測定 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
G06900 - SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間の接着強度の測定の試験方法
SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間の接着強度の測定の試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
D06300 - SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法
SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
M03400 - SEMI M34 - Guide for Specifying SIMOX Wafers
SEMI M34 - Guide for Specifying SIMOX Wafers Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
C04500 - SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様
SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
M07500 - SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様
SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
M05700 - SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様
SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
PV00400 - SEMI PV4 - Specification for Range of 5th Generation Substrate Sizes for Thin Film Photovoltaic Applications
SEMI PV4 - Specification for Range of 5th Generation Substrate Sizes for Thin Film Photovoltaic Applications Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
C07100 - SEMI C71 - 三塩化ホウ素（BCI3）の仕様およびガイド
SEMI C71 - 三塩化ホウ素（BCI3）の仕様およびガイド Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
M03600 - SEMI M36 - Test Method for Measuring Etch Pit Density (EPD) in Low Dislocation Density Gallium Arsenide Wafers
SEMI M36 - Test Method for Measuring Etch Pit Density (EPD) in Low Dislocation Density Gallium Arsenide Wafers Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
P03200 - SEMI P32 - Test Method for Determination of Trace Metals in Photoresist
SEMI P32 - Test Method for Determination of Trace Metals in Photoresist Sale priceMember Price: $113.00
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G08600 - SEMI G86 - シリコンチップ（ダイ）の三点曲げテスト方法
SEMI G86 - シリコンチップ（ダイ）の三点曲げテスト方法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
F04000 - SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法
SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
G01900 - SEMI G19 - Specification for Dip Leadframes Produced by Etching
SEMI G19 - Specification for Dip Leadframes Produced by Etching Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00