SEMI 3D14 - Guide for Incoming/Outgoing Quality control and Testing Flow for 3DS-IC Products

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G08400 - SEMI G84 - Specification for Strip Map Protocol
SEMI G84 - Specification for Strip Map Protocol Sale priceMember Price: $113.00
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MF216600 - SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers
SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
C02500 - SEMI C25 - Specification for Dichloromethane (Methylene Chloride)
SEMI C25 - Specification for Dichloromethane (Methylene Chloride) Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
P02700 - SEMI P27 - Parameter Checklist for Resist Thickness Measurement on a Substrate
SEMI P27 - Parameter Checklist for Resist Thickness Measurement on a Substrate Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
C07700 - SEMI C77 - 最小可測粒径が30nmから100nmの範囲にある液中パーティクルカウンタの計数効率を求める試験方法
SEMI C77 - 最小可測粒径が30nmから100nmの範囲にある液中パーティクルカウンタの計数効率を求める試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
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P02600 - SEMI P26 - Parameter Checklist for Photoresist Sensitivity Measurement
SEMI P26 - Parameter Checklist for Photoresist Sensitivity Measurement Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
P03200 - SEMI P32 - フォトレジスト中のトレースメタル定量のための試験方法
SEMI P32 - フォトレジスト中のトレースメタル定量のための試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
M00600 - SEMI M6 - Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells
SEMI M6 - Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells Sale priceMember Price: $113.00
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P03500 - SEMI P35 - マイクロリソグラフィメトロロジの用語法
SEMI P35 - マイクロリソグラフィメトロロジの用語法 Sale priceMember Price: $135.00
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Semiconductor Manufacturing Monitor - Single Edition
Semiconductor Manufacturing Monitor Single Edition Sale priceMember Price: $1,000.00
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G00200 - SEMI G2 - Specification for Metallic Leadframes for CerDIP Packages
SEMI G2 - Specification for Metallic Leadframes for CerDIP Packages Sale priceMember Price: $113.00
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F05500 - SEMI F55 - マスフローコントローラの耐腐食性を求めるための試験方法
SEMI F55 - マスフローコントローラの耐腐食性を求めるための試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
P00100 - SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板
SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板 Sale priceMember Price: $135.00
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F02100 - SEMI F21 - 清浄な環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類
SEMI F21 - 清浄な環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
D03800 - SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド
SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド Sale priceMember Price: $135.00
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M01400 - SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様）
SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様） Sale priceMember Price: $135.00
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G05600 - SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法
SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法 Sale priceMember Price: $135.00
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C00340 - SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4），99.997%品質の仕様
SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4），99.997%品質の仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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G08500 - SEMI G85 - Specification for Map Data Format
SEMI G85 - Specification for Map Data Format Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
P01100 - SEMI P11 - Test Method for Determination of Total Normality for Alkaline Developer Solutions
SEMI P11 - Test Method for Determination of Total Normality for Alkaline Developer Solutions Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
G05900 - SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染物の測定方法
SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染物の測定方法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
M05500 - SEMI M55 - 鏡面単結晶シリコンカーバイドウェーハの仕様
SEMI M55 - 鏡面単結晶シリコンカーバイドウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
G00800 - SEMI G8 - Test Method for Gold Plating
SEMI G8 - Test Method for Gold Plating Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
PV09600 - SEMI PV96 - Guide for the Design of Testing and Sorting Equipment for Crystalline Silicon Solar Cells
SEMI PV96 - Guide for the Design of Testing and Sorting Equipment for Crystalline Silicon Solar Cells Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00