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M06400 - SEMI M64 - Test Method for the EL2 Deep Donor Concentration in Semi-Insulating (SI) Gallium Arsenide Single Crystals by Infrared Absorption Spectroscopy
M06400 - SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトル法による絶縁(SI)ガリウムヒ素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法
M06500 - SEMI M65 - Specification for Sapphire Substrates to use for Compound Semiconductor Epitaxial Wafers
M06500 - SEMI M65 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様
M06600 - SEMI M66 - MISフラットバンド電圧―絶縁膜厚法を使った,酸化膜,およびhigh-κゲートスタックの有効仕事関数の算出方法
M06600 - SEMI M66 - Test Method to Extract Effective Work Function in Oxide and High-K Gate Stacks Using the MIS Flat Band Voltage-Insulator Thickness Technique
M06700 - SEMI M67 - Test Method for Determining Wafer Near-Edge Geometry from a Measured Thickness Data Array Using the ESFQR, ESFQD, and ESBIR Metrics
M06700 - SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR,ESFQD,ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
M06800 - SEMI M68 - Test Method for Determining Wafer Near-Edge Geometry from a Measured Height Data Array Using a Curvature Metric, ZDD
M06800 - SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
M07000 - SEMI M70 - Test Method for Determining Wafer-Near-Edge Geometry Using Partial Wafer Site Flatness
M07000 - SEMI M70 - パーシャルサイト平坦度を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレーター(SOI)ウェーハのための仕様
M07100 - SEMI M71 - Specification for Silicon-on-Insulator (SOI) Wafers for CMOS LSI
SEMI M71 - Specification for Silicon-on-Insulator (SOI) Wafers for CMOS LSI Sale priceMember Price: €113,00
Non-Member Price: €148,95
M07300 - SEMI M73 - Test Method for Extracting Relevant Characteristics from Measured Wafer Edge Profiles
M07300 - SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法
M07400 - SEMI M74 - Specification for 450 mm Diameter Mechanical Handling Polished Wafers
SEMI M74 - Specification for 450 mm Diameter Mechanical Handling Polished Wafers Sale priceMember Price: €113,00
Non-Member Price: €148,95
M07400 - SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様
SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €176,95
M07500 - SEMI M75 - Specification for Polished Monocrystalline Gallium Antimonide Wafers
SEMI M75 - Specification for Polished Monocrystalline Gallium Antimonide Wafers Sale priceMember Price: €113,00
Non-Member Price: €148,95
M07500 - SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様
SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €176,95
M07600 - SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers
M07600 - SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様
SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €176,95
M07700 - SEMI M77 - Test Method for Determining Wafer Near-Edge Geometry Using Roll-Off Amount, ROA
SEMI M77 - Test Method for Determining Wafer Near-Edge Geometry Using Roll-Off Amount, ROA Sale priceMember Price: €113,00
Non-Member Price: €148,95
M07700 - SEMI M77 - ロールオフ量(ROA)を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法