SEMI C10 - MDL(정량하락)決定に関するgaid -

Abstract

알림: 이 번역본은 참조용 사본입니다. 영어 버전과 다른 언어로 된 번역본 사이에 차이가 있는 경우 영어 버전이 공식적이고 권위 있는 버전입니다.

免責事項：このSEMIスタンダードは，投票により作成された英語版が正式なものであり，日本語版は日本の利用者各位の便宜のために作成したものです。万が一英語と日本語とに差異がある場合には英語版記載内容が優先されます｡

반 スタンダード スタンダード 日本語 スタンダード 版 を ご ご 利用 にあたって にあたって の の 注釈 を 本文 本文 の 末尾 に 記載 記載 し て おり ます ます ます ます 「す べき べき である である」 「し なければなら ない」について 等。。。。。

 

本standared는 Liquid Chemicals Global Technical Committeeで技術的に承認されている。現版は2014年8月25日，global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。 2014年11にwww.semiviews. orgおよびwww.semi.org에서 入手可能となる。

 

注意： 本文書は，編集上の修正を伴い，再承認された.

　

SEMIproseskemicarumata는 gass仕様のデーターに基づいて，定量下限値(MDL: method detection limit)의 決定方法について必要最小限のgaidline을を提示する。

 

このgaidは， SEMIproseskemicarumataはgassstandade およびgaidに指定された微量不純物に適用される。該当するすべての微不物純物について，校正曲線の回帰分析に基づいて，それぞれの仕様to同等matataはそれ以内のMDLを決定すべきである.

　

참조된 SEMI 표준

SEMI C16 — 정밀 보고/데이터 추적을 위한 가이드

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