Japan Store
SEMI T10 - 2D データ マトリックス ダイレクト マーク品質を評価するための試験方法 -
Volume(s):
Traceability
Language:
English
Type: Single Standards Download (.pdf)
Abstract
この規格は、トレーサビリティ グローバル技術委員会によって技術的に承認されました。この版は、2018 年 2 月 1 日にグローバル監査およびレビュー小委員会によって発行が承認されました。2018 年 6 月に www.semiviews.org および www.semi.org で入手可能になります。初版は 2001 年 7 月に出版されました。以前は 2012 年 9 月に出版されました。
この規格は、2D データ マトリックス ダイレクト マークの品質を評価する方法を定義することを目的としています。
この規格は、半導体関連材料の 2D データ マトリックス コード ダイレクト マークに適用される評価基準、計測方法、および評価報告手順を定義します。この規格を参照するアプリケーション仕様は、その範囲を特定のアプリケーションのより具体的な要件にさらに制限する場合があります。
参照されるSEMI規格なし。
 |
Interested in purchasing additional SEMI Standards? Consider SEMIViews, an online portal with access to over 1000 Standards. |
Refund Policy: Due to the nature of our products, SEMI has a no refund/no exchange policy. Please make sure that you have reviewed your order prior to finalizing your purchase. All sales are final.
0件