
SEMI PV67 - 結晶粒の腐食速度測定方法:通称重法 -
Abstract
この規格は、太陽光発電世界技術委員会によって技術的に承認されました。この版は、2015 年 5 月 19 日にグローバル監査およびレビュー小委員会によって発行が承認されました。2015 年 8 月に www.semiviews.org および www.semi.org で入手可能になります。
注意: この翻訳は参考コピーのみです。英語版と他の言語の翻訳との間に差異がある場合、英語版が正式かつ正式なバージョンとなります。
注意:這個翻譯是一個參考版本。如果您在使用上,發現中文翻譯版本與英文翻訳版本產生成任意暫定的或是不確定之處,請務必參考訳文版本,並以和訳原文版本為主,英文翻訳バージョンは正式および權威のバージョンです。
この規格の目的は、いわゆるドライプロセスにより結晶シリコンの腐食速度を測定する方法による、迅速な標準的な測定方法を確立することである。
この規格は、いわゆるリフロー試験を用いて、結晶シリコンシートの腐食、周縁エッチング、光等の腐食速度を計算する方法を規定している。
この規格は、電池の作製中の結晶シートの腐食速度の試験に適している。
この規格では腐食時間を規定しています。
参照されるSEMI規格なし。
![]() |
Interested in purchasing additional SEMI Standards? Consider SEMIViews, an online portal with access to over 1000 Standards. |
Refund Policy: Due to the nature of our products, SEMI has a no refund/no exchange policy. Please make sure that you have reviewed your order prior to finalizing your purchase. All sales are final.

PV06700 - SEMI PV67 - 結晶粒の腐食速度測定方法:通称重法
セール価格¥31,900 JPY
通常価格¥24,800 JPY (/)
0件
