SEMI PV67 - 結晶粒の腐食速度測定方法:通称重法 -

Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900

Volume(s): Photovoltaic
Language: Chinese (Simplified)



Type: Single Standards Download (.pdf)

リビジョン: SEMI PV67-0815 - Superseded

リビジョン

Abstract

この規格は、太陽光発電世界技術委員会によって技術的に承認されました。この版は、2015 年 5 月 19 日にグローバル監査およびレビュー小委員会によって発行が承認されました。2015 年 8 月に www.semiviews.org および www.semi.org で入手可能になります。

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この規格の目的は、いわゆるドライプロセスにより結晶シリコンの腐食速度を測定する方法による、迅速な標準的な測定方法を確立することである。

この規格は、いわゆるリフロー試験を用いて、結晶シリコンシートの腐食、周縁エッチング、光等の腐食速度を計算する方法を規定している。

この規格は、電池の作製中の結晶シートの腐食速度の試験に適している。

この規格では腐食時間を規定しています。

参照されるSEMI規格

なし。

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