
SEMI G5 - セラミックチップキャリアの規格 -
Abstract
注意:この規格または安全ガイドラインには無効な機能があります。 現在のステータスを維持するための条件が満たされていないため、ステータス。 非アクティブな規格または安全ガイドラインは SEMI から入手でき、引き続き使用できます。 使用が有効であること。
この仕様は、次の受け入れ基準を定義します。 同時焼成された、有鉛および無鉛の両方のセラミックチップキャリア。
参照SEMI規格(別途購入)
SEMI G8 — 金めっき品質の試験方法
SEMI G25 — 抵抗を測定するための試験方法 パッケージリード
SEMI G6 — シールリングの平坦度の試験方法
改訂履歴
SEMI G5-87 (技術改訂)
SEMI G5-86 (技術改訂)
SEMI G5-85 (技術改訂)
SEMI G5-84 (技術改訂)
SEMI G5-83 (技術改訂)
SEMI G5-80 (初版)
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G00500 - SEMI G5 - セラミックチップキャリアの規格
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