
SEMI G1 - 仕様Cer-DIPパッケージ構造 -
Abstract
注意:「 Current 」のステータスを維持するための条件が近づいて満たされていないため、この基準または安全ガイドラインは「 Inactive 」ステータスとなっています。「 Inactive 」の基準または安全ガイドラインはSEMIから入手可能ですであり、引き続き有効です。
注意:本書は、 1996 年に全面的に書き換えられました。
本仕様は、 CerDIP パッケージ構造に使用される構成部品(ベース、ウィンドウフレーム、及びキャップ)及びサブプロセッサ(ベースとウィンドウフレームの間に挟まれて取り付けられたリードフレーム)用の材料及び受け入れ検査基準を定義する。
本仕様は,以下のどれかのどっちを持つ全てのCerDIP (デュアルインライン)パッケージに適用される:
· 2 枚のセラミック片、つまり、ベースとウィンドウフレームの間に挟まれて、さらに、はんだガラス層で封止されたリードフレームと、同様の封止材を持つキャップ
· セラミックベース上はんだガラス中に取り付けられたリードフレームと、同様のガラス封止層を持つキャップ
参照されるSEMI規格
SEMI G20 — プラスチックパッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブデバイスのみ)
SEMI G23 — パッケージリードのインダクタンスを測定する試験方法
SEMI G24 — パッケージリードのリード間および負荷容量を測定する試験方法
SEMI G25 — パッケージリードの抵抗を測定するテスト方法
SEMI G30 — セラミックパッケージの接合部からケース間の熱抵抗測定の試験方法
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