
SEMI D73 - 静電容量式タッチスクリーン パネルの位置精度の試験方法 -
Abstract
この測定規格は、タッチスクリーン パネルの位置精度の試験方法を定義します。コンポーネント/材料/IC とパネル製造業者間のコミュニケーションを支援するために、この規格はタッチスクリーン パネルの応答性能を明らかにするテスト方法を提供します。
この規格は、一点および直線を含むタッチパネルの位置精度試験方法の総称規格です。
ユーザーエクスペリエンスに基づいて、テストサンプルはディスプレイを組み込んだタッチスクリーンパネルです。
テスト方法は、静電容量式のタッチスクリーン パネルに基づいています。
参照されるSEMI規格
なし。
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D07300 - SEMI D73 - 静電容量式タッチスクリーン パネルの位置精度の試験方法
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