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SEMI D35 - 冷陰極蛍光ランプ (CCFL) 特性の測定のための試験方法 -
Volume(s):
Flat Panel Display
Language:
English
Type: Single Standards Download (.pdf)
Abstract
この規格は、フラット パネル ディスプレイ – カラー フィルターおよび光学素子グローバル技術委員会によって技術的に承認されました。この版は、2009 年 5 月 13 日にグローバル監査およびレビュー小委員会によって発行が承認されました。2009 年 7 月に www.semi.org で入手可能です。初版は 2003 年 11 月に出版されました。
注意: 現在のステータスを維持するための条件が満たされていないため、この規格または安全ガイドラインは非アクティブなステータスになっています。非アクティブな規格または安全ガイドラインは SEMI から入手でき、引き続き使用できます。
この文書の目的は、冷陰極蛍光ランプ (CCFL) の電気的および光学的特性の測定方法を標準化することです。
この方法は、CCFL サプライヤーとユーザーが製品および開発中の品目の品質を評価するために使用されます。
この方法は、CCFL一般にCCFL（単品）の初期特性や試験後の信頼性を測定し、入荷・出荷するCCFLの品質検査に使用されます。
参照されるSEMI規格なし。
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