SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

1582 products

PV04700 - SEMI PV47 - 晶体硅光伏组件用减反射镀膜玻璃技术规范
SEMI PV47 - 晶体硅光伏组件用减反射镀膜玻璃技术规范 Sale priceMember Price: €113,00
Non-Member Price: €148,95
T00200 - SEMI T2 - Specification for Marking of Wafers With a Two Dimensional Dot Matrix
SEMI T2 - Specification for Marking of Wafers With a Two Dimensional Dot Matrix Sale priceMember Price: €113,00
Non-Member Price: €148,95
P01000 - SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様
SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
P00800 - SEMI P8 - フォトレジスト中の水分の測定方法
SEMI P8 - フォトレジスト中の水分の測定方法 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
T01000 - SEMI T10 - 二次元データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法
SEMI T10 - 二次元データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
P03500 - SEMI P35 - マイクロリソグラフィメトロロジの用語法
SEMI P35 - マイクロリソグラフィメトロロジの用語法 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
T00600 - SEMI T6 - Procedure and Format for Reporting of Test Results by Electronic Data Interchange (EDI)
SEMI T6 - Procedure and Format for Reporting of Test Results by Electronic Data Interchange (EDI) Sale priceMember Price: €113,00
Non-Member Price: €148,95
P03700 - SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様
SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
P00500 - SEMI P5 - ペリクルの仕様
SEMI P5 - ペリクルの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
P04700 - SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法
SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
F07700 - SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学的臨界孔食温度のテスト方法
SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学的臨界孔食温度のテスト方法 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
M05600 - SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法
SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
G06900 - SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間の接着強度の測定の試験方法
SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間の接着強度の測定の試験方法 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
M03800 - SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様
SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
M02300 - SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様
SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
M00900 - SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様
SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
M02400 - SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様
SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
C00357 - SEMI C3.57 - シリンダ中の電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様
SEMI C3.57 - シリンダ中の電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
M07300 - SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法
SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
M05200 - SEMI M52 - 130 nm，90nm，65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド
SEMI M52 - 130 nm，90nm，65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
M03400 - SEMI M34 - Guide for Specifying SIMOX Wafers
SEMI M34 - Guide for Specifying SIMOX Wafers Sale priceMember Price: €113,00
Non-Member Price: €148,95
M01200 - SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様
SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
C04500 - SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様
SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様 Sale priceMember Price: €135,00
Non-Member Price: €177,95
View All