SEMI T10 - 二次元データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法 -

Abstract

本スタンダードは，global Traceability Technical Committeeで技術的に承認されている。現版は2012年8月30日，global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。2012年9月にwww.semiviews.orgおよび www.semi.orgで入手可能となる。初版は2001年7月発行。前版は2007年3月発行。

　

本スタンダードは，二次元データマトリクスの直接マークの品質を評価する方法を定義することを意図する。

　

本スタンダードは，半導体関連材料に関する二次元データマトリクスコード直接マークに適用する評価基準，計量方法および評価報告手順を定義する。本スタンダードを引用する適用仕様書は，特定アプリケーションの特殊な要求事項に対し, その適用範囲をさらに制限することがある。

　

Referenced SEMI Standards

None.

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