SEMI 3D16 - Specification for Glass Base Material for Semiconductor Packaging

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C10400 - SEMI C104 - Guide for Reporting Performance Parameters of the Polymer Windows for Chemical Mechanical Planarization (CMP) Pads Used in Semiconductor Manufacturing
SEMI C104 - Guide for Reporting Performance Parameters of the Polymer Windows for Chemical Mechanical Planarization (CMP) Pads Used in Semiconductor Manufacturing Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07700 - SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学的臨界孔食温度のテスト方法
SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学的臨界孔食温度のテスト方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00300 - SEMI P3 - Specification for Photoresist/E-Beam Resist for Hard Surface Photoplates
SEMI P3 - Specification for Photoresist/E-Beam Resist for Hard Surface Photoplates Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02000 - SEMI P20 - EBレジストパラメータのカタログ公表のガイドライン（提案）
SEMI P20 - EBレジストパラメータのカタログ公表のガイドライン（提案） Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G04400 - SEMI G44 - Specification for Lead Finishes for Glass to Metal Seal Ceramic Packages (Active Devices Only)
SEMI G44 - Specification for Lead Finishes for Glass to Metal Seal Ceramic Packages (Active Devices Only) Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01100 - SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のテスト方法
SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のテスト方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07600 - SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers
SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers Regular price¥49,500 JPY Sale price¥31,900 JPY
M02300 - SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様
SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03800 - SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様
SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M05600 - SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法
SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03400 - SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MS00900 - SEMI MS9 - Specification for High Density Permanent Connections Between Microfluidic Devices
SEMI MS9 - Specification for High Density Permanent Connections Between Microfluidic Devices Regular price¥49,500 JPY Sale price¥31,900 JPY
G03300 - SEMI G33 - Specification for Pressed Ceramic Pin Grid Array Packages
SEMI G33 - Specification for Pressed Ceramic Pin Grid Array Packages Sale priceMember Price: ¥113
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M07300 - SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法
SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01500 - SEMI M15 - Polished Wafer Defect Limits Table for Semi-Insulating Gallium Arsenide Wafers
SEMI M15 - Polished Wafer Defect Limits Table for Semi-Insulating Gallium Arsenide Wafers Sale priceMember Price: ¥113
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C00357 - SEMI C3.57 - シリンダ中の電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様
SEMI C3.57 - シリンダ中の電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様 Sale priceMember Price: ¥135
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M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様 Sale priceMember Price: ¥135
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M04900 - SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド
SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド Sale priceMember Price: ¥135
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G06800 - SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージのジャンクション部とケース間の熱抵抗測定の試験方法
SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージのジャンクション部とケース間の熱抵抗測定の試験方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G00800 - SEMI G8 - 金めっきの試験方法
SEMI G8 - 金めっきの試験方法 Sale priceMember Price: ¥135
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M01200 - SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様
SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様 Sale priceMember Price: ¥135
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F06200 - SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法
SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
D02200 - SEMI D22 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片總成顏色透光度計算之測試法
SEMI D22 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片總成顏色透光度計算之測試法 Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04600 - SEMI P46 - Specification for Critical Dimension (CD) Measurement Information Data on Photomask by XML
SEMI P46 - Specification for Critical Dimension (CD) Measurement Information Data on Photomask by XML Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900