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3D02000 - SEMI 3D20 - Specification for Panel Characteristics for Panel Level Packaging (PLP) Applications
SEMI 3D20 - Specification for Panel Characteristics for Panel Level Packaging (PLP) Applications Sale priceMember Price: $113.00
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C03000 - SEMI C30 - 過酸化水素の仕様
SEMI C30 - 過酸化水素の仕様 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
G01900 - SEMI G19 - Specification for Dip Leadframes Produced by Etching
SEMI G19 - Specification for Dip Leadframes Produced by Etching Sale priceMember Price: $113.00
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C00100 - SEMI C1 - 液体化学薬品の分析のためのガイド
SEMI C1 - 液体化学薬品の分析のためのガイド Sale priceMember Price: $135.00
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F04000 - SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法
SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法 Sale priceMember Price: $135.00
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G07200 - SEMI G72 - Specification for Ball Grid Array Design Library
SEMI G72 - Specification for Ball Grid Array Design Library Sale priceMember Price: $113.00
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C05200 - SEMI C52 - 特殊ガスの貯蔵寿命に関する仕様
SEMI C52 - 特殊ガスの貯蔵寿命に関する仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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P02500 - SEMI P25 - Specification for Measuring Depth of Focus and Best Focus
SEMI P25 - Specification for Measuring Depth of Focus and Best Focus Sale priceMember Price: $113.00
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C02800 - SEMI C28 - フッ化ケイ素酸の仕様
SEMI C28 - フッ化ケイ素酸の仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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M01500 - SEMI M15 - 半絶縁ガリウムヒ素ウェーハ用の鏡面ウェーハの許容表面欠陥表
SEMI M15 - 半絶縁ガリウムヒ素ウェーハ用の鏡面ウェーハの許容表面欠陥表 Sale priceMember Price: $135.00
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D00900 - SEMI D9 - FPD基板の用語
SEMI D9 - FPD基板の用語 Sale priceMember Price: $135.00
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P02800 - SEMI P28 - Specification for Overlay-Metrology Test Patterns for Integrated-Circuit Manufacture
SEMI P28 - Specification for Overlay-Metrology Test Patterns for Integrated-Circuit Manufacture Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
MS00700 - SEMI MS7 - Specification for Microfluidic Interfaces to Electronic Device Packages
SEMI MS7 - Specification for Microfluidic Interfaces to Electronic Device Packages Regular price$300.00 USD Sale price$193.00 USD
F10100 - SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法
SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
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M08100 - SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド
SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド Sale priceMember Price: $135.00
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M00800 - SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様
SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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G05800 - SEMI G58 - Specification for Cerquad Package Constructions
SEMI G58 - Specification for Cerquad Package Constructions Sale priceMember Price: $113.00
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P00100 - SEMI P1 - Specification for Hard Surface Photomask Substrates
SEMI P1 - Specification for Hard Surface Photomask Substrates Sale priceMember Price: $113.00
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M06200 - SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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P01800 - SEMI P18 - Specification for Overlay Capabilities of Wafer Steppers
SEMI P18 - Specification for Overlay Capabilities of Wafer Steppers Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
P02100 - SEMI P21 - マスク描画装置の精度表示のガイドライン
SEMI P21 - マスク描画装置の精度表示のガイドライン Sale priceMember Price: $135.00
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M03200 - SEMI M32 - Guide to Statistical Specifications
SEMI M32 - Guide to Statistical Specifications Sale priceMember Price: $113.00
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P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液における鉄，亜鉛，カルシウム，マグネシウム，銅，ホウ素，アルミニウム，クロム，マンガン，およびニッケルの測定
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液における鉄，亜鉛，カルシウム，マグネシウム，銅，ホウ素，アルミニウム，クロム，マンガン，およびニッケルの測定 Sale priceMember Price: $135.00
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G08900 - SEMI G89 - リードフレームのストリップ寸法の規格
SEMI G89 - リードフレームのストリップ寸法の規格 Sale priceMember Price: $135.00
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