SEMI PV67 - 晶體硅片腐蚀速率测试方法：称重法 -

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Volume(s): Photovoltaic
Language: Chinese (Simplified)
Type: Single Standards Download (.pdf)
SEMI Standards Copyright Policy/License Agreements

개정: SEMI PV67-0815 - 전류

개정

Abstract

이 표준은 Photovoltaic Global Technical Committee에서 기술적으로 승인되었습니다. 이 판은 2015년 5월 19일에 글로벌 감사 및 검토 소위원회의 출판 승인을 받았습니다. 2015년 8월에 www.semiviews.org 및 www.semi.org에서 볼 수 있습니다.

알림: 이 번역본은 참조용 사본입니다. 영어 버전과 다른 언어로 된 번역본 사이에 차이가 있는 경우 영어 버전이 공식적이고 권위 있는 버전입니다.

注意：這個翻譯是一個參考版本。如果您在使用上，發現中文翻譯版本與英文原文版本產生任何差異或是不確定之處，請務必參考英文原文版本，並以英文原文版本為主，英文原文版本屬於正式和權威的版本。

　

本标准的目的是制定一种快速准确的测试方法，通过称重法测试晶体硅片腐蚀速率的方法.

　

本标准规定了用称重法测试和计算晶體硅片腐蚀, 周边刻蚀, 抛光等腐蚀速率的方法.

　

本标准适用于晶體硅片 in 制作电池过程中腐蚀速率的测试.

　

本标准规定了腐蚀时间.

　

참조된 SEMI 표준

없음.

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