{"product_id":"g02500-semi-g25-test-method-for-measuring-the-resistance-of-package-leads","title":"G02500 - SEMI G25 - 패키지 리드의 저항 측정을 위한 테스트 방법","description":"\u003cp class=\"StdsIndent\" style=\"MARGIN: 0in 0.5in 6pt\"\u003e \u003cspan style=\"FONT-SIZE: 10pt; FONT-FAMILY: Arial\"\u003e이 표준은 글로벌 조립 및 포장 기술 위원회에서 기술적으로 승인되었습니다. 이 에디션은 2011년 7월 1일에 글로벌 감사 및 검토 소위원회의 출판 승인을 받았습니다. 2011년 8월에 www.semiviews.org 및 www.semi.org에서 볼 수 있습니다. 원래 1984년에 출판되었습니다. 이전에 1989년에 출판되었습니다.\u003c\/span\u003e \u003c?xml:namespace prefix = o ns = \"urn:schemas-microsoft-com:office:office\" \/\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"StdsHead2\" style=\"MARGIN: 6pt 0in; mso-list: none\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\"\u003e \u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e \u003cp class=\"StdsHead2\" style=\"MARGIN: 6pt 0in; mso-list: none\"\u003e\u003cspan style=\"FONT-FAMILY: Arial\"\u003e\u003cfont size=\"2\"\u003e이 문서는 포장 요소에서 납의 저항을 측정하는 데 사용되는 장비, 재료 및 절차를 정의합니다. 이 문서는 여기에 설명된 방법으로 측정할 수 있는 패키징 요소 유형의 한 예로 핀 그리드(캐비티 다운) 패키지를 사용합니다. 그러나이 측정 기술은 적절한 고려를 통해 다른 기하학에 적용될 수 있습니다.\u003c\/font\u003e\u003c\/span\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e \u003cb\u003e참조된 SEMI 표준\u003c\/b\u003e\u003cbr\u003e\u003cp\u003e \u003cfont\u003e없음.\u003cbr\u003e\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e","brand":"semi.org","offers":[{"title":"SEMI G25-89(0811 재승인) - 비활성","offer_id":40234297131075,"sku":"4237","price":290000.0,"currency_code":"KRW","in_stock":true},{"title":"SEMI G25-89 - 대체됨","offer_id":40234297163843,"sku":"12221","price":290000.0,"currency_code":"KRW","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0567\/3402\/3747\/files\/GVolume_4c077672-6ffd-47ed-be44-f912c85fb823.png?v=1776702699","url":"https:\/\/store-dev2.semi.org\/ko-kr\/products\/g02500-semi-g25-test-method-for-measuring-the-resistance-of-package-leads","provider":"SEMI Dev 2","version":"1.0","type":"link"}