SEMI D21 - FPD마스크파탄점도용어 -

Abstract

本standared는 글로벌 평판 디스플레이 위원회で技術的に承認されている。現版は2006年5月16日， global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。 2006年6月にwww.semi. org 로, 2006 년 7 월にCD -ROM 으로入手可能となる.

　

この文書は， FPD 용 마스크 の 欠陥用語を定義する。 このスタンダードにより，技術会議や商談の場などで用用 される用語が明確になり，maskに関する標溫化が促進されることをねらいとしている.

　

これらの用語は,主にFPDを製造するのに使用するフォトマスクに適用される.

참조된 SEMI 표준

없음.

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