{"product_id":"g09600-semi-g96-test-method-for-measurement-of-chip-die-strength-by-mean-of-cantilever-bending","title":"G09600 - SEMI G96 - カンチレバーの曲げによるチップ（ダイ）強度の測定のための試験方法","description":"\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eこの試験方法は、ウェーハ厚さが 50 μm 未満の場合、3 点曲げによる強度測定が困難な場合に、カンチレバー曲げによるダイ強度の評価手順を定義します。\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cfont size=\"2\"\u003e\u003cfont size=\"2\" style=\"\"\u003e\u003cfont face=\"arial\"\u003e \u003c\/font\u003e\u003c\/font\u003e\u003c\/font\u003e\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\" style=\"\"\u003e\u003cfont face=\"arial\"\u003e　\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e \u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\" style=\"\"\u003e\u003cfont face=\"arial\"\u003eこの試験方法はカンチレバー曲げ法のみに適用され、その他の方法については別途規定する。\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\" style=\"\"\u003e\u003cfont face=\"arial\"\u003e　\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\" style=\"\"\u003e\u003cfont face=\"arial\"\u003eこの試験方法は、処理されたウェーハからのダイのダイ強度を測定するために使用されます。\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\" style=\"\"\u003e\u003cfont face=\"arial\"\u003e　\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\" style=\"\"\u003e\u003cfont face=\"arial\"\u003e薄型パッケージの需要を満たすためにウェーハ薄化技術が普及しているため、ダイの品質と認証にはダイ強度データが重要です。この規格は、3 点曲げ測定法 SEMI G86-0303 から極薄厚の領域まで拡張されており、抗折強度の評価方法、測定データの要約手法、および試験報告書のデータの使用方法について説明しています。\u003c\/font\u003e \u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\" style=\"\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\" style=\"\"\u003e\u003cfont face=\"arial\"\u003e　\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\n\u003cfont face=\"arial\"\u003e\u003cb style=\"\"\u003e参照されるSEMI規格\u003c\/b\u003e\u003cbr\u003e\u003c\/font\u003e\u003cp style=\"\"\u003e\u003cfont face=\"arial\"\u003eSEMI G86 — 3 点曲げによるチップ (ダイ) 強度測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003cbr\u003e\u003c\/p\u003e","brand":"semi.org","offers":[{"title":"SEMI G96-0126 - Current","offer_id":43106894544963,"sku":"18912","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"SEMI G96-0126 - Current + Redline","offer_id":43106894577731,"sku":"18913","price":38900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"SEMI G96-1014 (Reapproved 1019) - Superseded","offer_id":43106894610499,"sku":"13597","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"SEMI G96-1014 - 置き換えられました","offer_id":40234296180803,"sku":"4272","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0567\/3402\/3747\/files\/GVolume_15513707-7bda-460b-86ef-30496129edd4.png?v=1776702676","url":"https:\/\/store-dev2.semi.org\/ja-jp\/products\/g09600-semi-g96-test-method-for-measurement-of-chip-die-strength-by-mean-of-cantilever-bending","provider":"SEMI Dev 2","version":"1.0","type":"link"}