{"product_id":"g07500-semi-g75-standard-test-method-of-the-properties-of-leadframe-tape","title":"G07500 - SEMI G75 - リードフレームテープの特性の標準試験方法","description":"\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003eこの規格は、アセンブリおよびパッケージングの世界技術委員会によって技術的に承認されました。この版は、2015 年 3 月 26 日にグローバル監査およびレビュー小委員会によって発行が承認されました。2015 年 6 月に www.semiviews.org および www.semi.org で入手可能になります。初版は1998年6月。以前は 2006 年 7 月に出版されました。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e注意: この文書は編集上若干の変更を加えて再承認されました。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003eこの規格は、リードフレーム テープの機械的、物理的、化学的、熱的、電気的特性を測定する手順について説明しています。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e装置、サンプリング、および手順は、個々の試験方法で参照されます。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e個々の特性の試験方法はこの規格に記載されています。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003eイオン性不純物 (SEMI G75.1 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e接着強度 (SEMI G75.2 を参照)。\u003c\/p\u003e \u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003eリードフレームテープからの保護フィルムの剥離強度（SEMI G75.3を参照）。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e吸水性 (SEMI G75.4 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e体重減少（SEMI G75.5を参照）。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e収縮率 (SEMI G75.6 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e熱分解温度 (SEMI G75.7 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e熱膨張係数とガラス転移温度 (SEMI G75.8 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e引張強度、伸び、および引張弾性率 (SEMI G75.9 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e体積抵抗率と表面抵抗率 (SEMI G75.10 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e誘電率と誘電正接 (SEMI G75.11 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e破壊強度 (SEMI G75.12 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e漏れ電流 (SEMI G75.13 を参照)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003eこの方法は、テープ メーカー、リードフレーム メーカー、およびその顧客がリードフレーム テープを評価するのに役立ちます。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"left\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003e下位文書:\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e \u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.1-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープ内のイオン性不純物測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e \u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.2-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの接着強度測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.3-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープ上の保護フィルムの剥離強度測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.4-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの吸水率測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.5-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの重量損失測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.6-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの収縮率測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.7-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープおよび接着剤の熱分解温度測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e \u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.8-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの熱膨張係数およびガラス転移温度の測定のための試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.9-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの引張強度、伸び、および引張弾性率の測定のための試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.10-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの体積抵抗率および表面抵抗率の測定のための試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.11-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの誘電率および誘電正接の測定のための試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.12-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの破壊強度測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e \u003cp\u003e\u003cfont size=\"2\" face=\"Microsoft Sans Serif\"\u003eSEMI G75.13-0698 (再承認 0615) - リードフレームテープの漏れ電流測定の試験方法\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cb\u003e参照されるSEMI規格\u003c\/b\u003e\u003cbr\u003e\u003cp\u003eSEMI G29 — 成形材料中の微量汚染物質の試験方法\u003cbr\u003eSEMI G59 — リードフレームインターリーフィング上のイオン汚染およびインターリーフィングからリードフレームに移動した汚染の測定のための試験方法\u003cbr\u003e\u003c\/p\u003e","brand":"semi.org","offers":[{"title":"SEMI G75-0698 (再承認 0615) - 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