{"product_id":"g05200-semi-g52-test-method-for-measurement-of-ionic-contamination-on-semiconductor-leadframes","title":"G05200 - SEMI G52 - 半導体リードフレーム上のイオン汚染測定の試験方法","description":"\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eリードフレーム上の汚染は半導体の劣化に寄与する可能性があります\u003c\/font\u003e\n\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eデバイスの信頼性の問題。このテスト方法はリードフレームで使用できます\u003c\/font\u003e\n\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003e出荷検査ではメーカーが、受入検査ではユーザーが検査を行います。\u003c\/font\u003e\n\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eデバイスの信頼性と汚染レベルの相関関係により、次のような問題が発生する可能性があります。\u003c\/font\u003e\n\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eリードフレームの洗浄プロセスが改善されました。\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003c\/p\u003e\n\n\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cbr\u003e\u003c\/p\u003e\n\n\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eこの規格では、イオン性を決定する手順について説明します。\u003c\/font\u003e\n\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003e水抽出法を使用してリードフレームの汚染を除去します。その方法は、\u003c\/font\u003e\n \u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eNa+、NH4+、K+、Cl-、NO3-、Br-、SO42-、PO43-に敏感。\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003e\u003cbr\u003e\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003e\u003cb\u003e参照されるSEMI規格\u003c\/b\u003e\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eなし\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003e\u003cbr\u003e\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003e\u003cb\u003e改訂履歴\u003c\/b\u003e\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eSEMI G52-1120 (技術改訂)\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e \u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e\u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eSEMI G52-1115 (技術改訂)\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e \u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eSEMI G52-90 (再承認 1104)\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp class=\"MsoNormal\"\u003e \u003cfont face=\"arial\" size=\"2\"\u003eSEMI G52-90 (初公開)\u003c\/font\u003e\u003cspan style=\"font-family: arial; font-size: small;\"\u003e \u003c\/span\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cbr\u003e\u003cbr\u003e\u003cp\u003e\u003c\/p\u003e","brand":"semi.org","offers":[{"title":"SEMI G52-1120 - 現在","offer_id":40234283630659,"sku":"14317","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"SEMI G52-1115 - 置き換えられました","offer_id":40234283728963,"sku":"4280","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"SEMI G52-90 (再承認 1104) - 置き換えられました","offer_id":40234283860035,"sku":"12243","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0567\/3402\/3747\/files\/GVolume_fee64fd3-bfc9-4c5f-840d-5180d843ffba.png?v=1776702670","url":"https:\/\/store-dev2.semi.org\/ja-jp\/products\/g05200-semi-g52-test-method-for-measurement-of-ionic-contamination-on-semiconductor-leadframes","provider":"SEMI Dev 2","version":"1.0","type":"link"}