{"product_id":"g04200-semi-g42-specification-for-thermal-test-board-standardization-for-measuring-junction-to-ambient-thermal-resistance-of-semiconductor-packages","title":"G04200 - SEMI G42 - 半導体パッケージの接合部から周囲までの熱抵抗を測定するための熱試験ボードの標準化仕様","description":"\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e この文書は、基準方法として静止空気および強制空気条件下での半導体パッケージの接合部から周囲までの熱抵抗測定に使用される標準熱抵抗テストボードの要件を規定します。\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003eこの資料では、以下のパッケージを測定するための熱抵抗テストボードについて説明します。\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e • デュアルインラインパッケージ (DIP)、\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e • プラスチックチップキャリアパッケージ (PCC)、\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e • クアッド フラット パッケージ (QFP)、\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e • ピン グリッド アレイ パッケージ (PGA)、および\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e•ボール グリッド アレイ パッケージ (BGA)。\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003eこの文書では SI 単位を使用します。\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\" dir=\"ltr\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cb\u003e参照されるSEMI規格\u003c\/b\u003e \u003cp\u003eSEMI G32 — カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン\u003cbr\u003eSEMI G38 — 集積回路パッケージの静止空気および強制空気接合部から周囲までの熱抵抗測定の試験方法\u003c\/p\u003e","brand":"semi.org","offers":[{"title":"SEMI G42-0996 (再承認 0318) - 非アクティブ","offer_id":40234304569411,"sku":"4290","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"SEMI G42-0996 (再承認 0811) - 置き換えられました","offer_id":40234304634947,"sku":"12274","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"SEMI G42-0996 (再承認 1104) - 置き換えられました","offer_id":40234304766019,"sku":"12236","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0567\/3402\/3747\/files\/GVolume_58fafe1b-6a46-49ed-8879-409a81852184.png?v=1776702661","url":"https:\/\/store-dev2.semi.org\/ja-jp\/products\/g04200-semi-g42-specification-for-thermal-test-board-standardization-for-measuring-junction-to-ambient-thermal-resistance-of-semiconductor-packages","provider":"SEMI Dev 2","version":"1.0","type":"link"}