{"product_id":"d04700-semi-d47-test-method-for-measurement-of-bent-cold-cathode-flourescent-lamps","title":"D04700 - SEMI D47 - 曲がった冷陰極蛍光ランプの測定のための試験方法","description":"\u003cp\u003eこの規格は、世界的なフラット パネル ディスプレイ委員会によって技術的に承認されました。この版は、2006 年 11 月 21 日にグローバル監査およびレビュー小委員会によって出版が承認されました。この版は、2007 年 2 月に www.semi.org で入手可能になりました。\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003eこの文書の目的は、曲げ冷陰極蛍光ランプ (CCFL) の電気的および光学的特性の測定方法を標準化することです。\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cb\u003e参照されるSEMI規格\u003c\/b\u003e\u003cbr\u003e\u003cp\u003eSEMI D35 — 冷陰極蛍光ランプ (CCFL) 特性測定の試験方法\u003c\/p\u003e","brand":"semi.org","offers":[{"title":"SEMI D47-0307 - 非アクティブ","offer_id":40234243162179,"sku":"3166","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0567\/3402\/3747\/files\/DVolume_10abedf1-a1a0-49c2-b69f-987d879887df.png?v=1776702956","url":"https:\/\/store-dev2.semi.org\/ja-jp\/products\/d04700-semi-d47-test-method-for-measurement-of-bent-cold-cathode-flourescent-lamps","provider":"SEMI Dev 2","version":"1.0","type":"link"}