
SEMI D41 - FLAT PANEL DISPLAY検査におけるSEMIのムラの測定方法 -
Abstract
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本基準は、
フラットパネルディスプレイ - ファクトリーオートメーショングローバル技術委員会で技術的に承認されたもので、韓国フラットパネルディスプレイワーキンググループが直接責任を負うものである。現版は2004年11月24日日本地域規格委員会にて承認された2005年1月にまずwww.semi.orgで入手可能となり、 2005年3月発行に至る。
注意: 現在のステータスを維持するための条件が満たされていないため、この規格または安全ガイドラインは非アクティブなステータスになっています。非アクティブな規格または安全ガイドラインは SEMI から入手でき、引き続き使用できます。
本基準は、
フラット パネル ディスプレイ (FPD)モニタリングにおけるムラの目視検査に近いテスト条件に対して,SEMI D31 で導出された方式の適用方法を定義する。
SEMI D31では、目視検査とCCDベースの計測器との比較において、 FPDの欠陥および斑点を検出する方式を導出しました。
一般に、人間の検査者に代わる計測器実装の困難さは、出所および場所に伴う危険の変動がある。
本基準は、
FPDに適用される。本基準は,主にSemuの測定方法およびSemuの改訂された定義を展望する。 )とする。 参照されるSEMI規格SEMI D31 — FPD画質検査における輝度ムラの測定指標(Semu)の定義
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D04100 - SEMI D41 - FLAT PANEL DISPLAY検査におけるSEMIのムラの測定方法
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