{"product_id":"d01500-semi-d15-fpd-glass-substrate-surface-waviness-measurement-method","title":"D01500 - SEMI D15 - FPDガラス基板表面のうねり測定方法","description":"\u003cp\u003e\u003cfont face=\"Microsoft Sans Serif\" size=\"2\"\u003eこの方法は、世界的なフラット パネル ディスプレイ委員会によって技術的に承認されており、日本の FPD 材料およびコンポーネント委員会が直接責任を負っています。最新版は、2003 年 4 月 28 日に日本の地域標準委員会によって承認されました。最初は 2003 年 6 月に www.semi.org で入手可能でした。 2003 年 7 月に出版予定。初版は 1996 年 12 月に出版されました。\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont face=\"Microsoft Sans Serif\" size=\"2\"\u003e\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp\u003e\u003cfont face=\"Microsoft Sans Serif\" size=\"2\"\u003eこの文書では、機械式スタイラス、光学式スタイラス、および光学式干渉測定法を採用した測定器による FPD ガラス基板表面のうねりの測定について説明します。\u003c\/font\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cb\u003e参照されるSEMI規格\u003c\/b\u003e\u003cbr\u003e\u003cp\u003e\u003cfont\u003eSEMI D3 — フラットパネルディスプレイ基板の品質領域仕様\u003cbr\u003e\u003cfont\u003eSEMI D9 — フラットパネルディスプレイ基板の定義\u003c\/font\u003e\u003c\/font\u003e \u003cbr\u003e\u003c\/p\u003e","brand":"semi.org","offers":[{"title":"SEMI D15-1296 (再承認 0703) - 非アクティブ","offer_id":40234242605123,"sku":"3115","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0567\/3402\/3747\/files\/DVolume_3f808a6e-57c3-4910-b306-7fe455a08668.png?v=1776703001","url":"https:\/\/store-dev2.semi.org\/ja-jp\/products\/d01500-semi-d15-fpd-glass-substrate-surface-waviness-measurement-method","provider":"SEMI Dev 2","version":"1.0","type":"link"}