{"product_id":"3d01400-semi-3d14-guide-for-incoming-outgoing-quality-control-and-testing-flow-for-3ds-ic-products","title":"3D01400 - SEMI 3D14 - 3DS-IC 製品の受入\/出荷品質管理およびテストフローのガイド","description":"\u003cp align=\"justify\"\u003eこの規格は、3DS-IC グローバル技術委員会によって技術的に承認されました。この版は、2015 年 3 月 26 日にグローバル監査およびレビュー小委員会によって発行が承認されました。2015 年 6 月に www.semiviews.org および www.semi.org で入手可能になります。\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e \u003cp align=\"justify\"\u003e3DS-IC 製品の一貫した歩留り管理を確保するには、外部委託されたサブアセンブリおよびテスト (OSAT) の受入品質管理 (IQC) と出荷品質管理 (OQC) の共通基準が必要です。さまざまな 3DS-IC 製品の一般的なテスト フローもこのガイドで定義されており、3DS-IC テストの進行が促進されます。\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\"\u003eこのガイドは、メーカーの責任を明確にし、製品の歩留まりを向上させるために、外観、変色、ボールの欠落、亀裂などの OSAT の IQC および OQC の基準を定義します。このガイドでは、チップ オン チップ (CoC)、チップ オン サブストレート (CoS)、チップ オン ウェーハ (CoW)、スタックド チップ オン サブストレート (SCoS)、およびウェーハ オンなどのさまざまな 3DS-IC 製品の一般的なテスト フローも定義します。ウェーハ (WoW) を使用して、3DS-IC テストの進歩を加速します。\u003c\/p\u003e\n\u003cp align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cp dir=\"ltr\" align=\"justify\"\u003e\u003c\/p\u003e\n\u003cb\u003e参照されるSEMI規格\u003c\/b\u003e\u003cbr\u003e\u003cp\u003eSEMI M59 — シリコンテクノロジーの用語\u003cbr\u003e\u003c\/p\u003e","brand":"semi.org","offers":[{"title":"SEMI 3D14-0523 - Current","offer_id":43106911551555,"sku":"16524","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true},{"title":"SEMI 3D14-0615 - Superseded","offer_id":43106911584323,"sku":"995","price":31900.0,"currency_code":"JPY","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0567\/3402\/3747\/files\/3DVolume_63bfb016-26b2-4a87-94b1-c2533bb2ebbb.png?v=1776703138","url":"https:\/\/store-dev2.semi.org\/ja-jp\/products\/3d01400-semi-3d14-guide-for-incoming-outgoing-quality-control-and-testing-flow-for-3ds-ic-products","provider":"SEMI Dev 2","version":"1.0","type":"link"}