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MF172400 - SEMI MF1724 - Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI MF1724 - Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: €113,00
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P02400 - SEMI P24 - CD Metrology Procedures
SEMI P24 - CD Metrology Procedures Sale priceMember Price: €113,00
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F07100 - SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法
SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法 Sale priceMember Price: €135,00
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P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄，亜鉛，カルシウム，マグネシウム，銅，ホウ素，アルミニウム，クロム，マンガン，及びニッケルの測定
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄，亜鉛，カルシウム，マグネシウム，銅，ホウ素，アルミニウム，クロム，マンガン，及びニッケルの測定 Sale priceMember Price: €135,00
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C0700 - SEMI C70 - 六フッ化タングステン（WF6）の仕様
SEMI C70 - 六フッ化タングステン（WF6）の仕様 Sale priceMember Price: €135,00
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F02300 - SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様 Sale priceMember Price: €135,00
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D03000 - SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法
SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法 Sale priceMember Price: €135,00
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P01300 - SEMI P13 - Determination of Sodium and Potassium in Positive Photoresists by Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI P13 - Determination of Sodium and Potassium in Positive Photoresists by Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: €113,00
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C00358 - SEMI C3.58 - 八フッ化シクロブタン（C4F8），電子グレード，シリンダ充填，品質99.999%の仕様
SEMI C3.58 - 八フッ化シクロブタン（C4F8），電子グレード，シリンダ充填，品質99.999%の仕様 Sale priceMember Price: €135,00
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M01000 - SEMI M10 - ガリウムヒ素ウェーハに見られる構造及び特徴の確認のための標準名称
SEMI M10 - ガリウムヒ素ウェーハに見られる構造及び特徴の確認のための標準名称 Sale priceMember Price: €135,00
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G03200 - SEMI G32 - Guideline for Unencapsulated Thermal Test Chip
SEMI G32 - Guideline for Unencapsulated Thermal Test Chip Sale priceMember Price: €113,00
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M00100 - SEMI M1 - 鏡面単結晶シリコンウェーハの仕様
SEMI M1 - 鏡面単結晶シリコンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
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P01600 - SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液中の錫の測定
SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液中の錫の測定 Sale priceMember Price: €135,00
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P01600 - SEMI P16 - Determination of Tin in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI P16 - Determination of Tin in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: €113,00
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P02400 - SEMI P24 - CD測長手順
SEMI P24 - CD測長手順 Sale priceMember Price: €135,00
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G02300 - SEMI G23 - 半導体パッケージの内部導体路のインダクタンスのための試験方法
SEMI G23 - 半導体パッケージの内部導体路のインダクタンスのための試験方法 Sale priceMember Price: €135,00
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M01900 - SEMI M19 - バルク・ガリウムヒ素単結晶基板の電気的性質（仕様）
SEMI M19 - バルク・ガリウムヒ素単結晶基板の電気的性質（仕様） Sale priceMember Price: €135,00
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MS00600 - SEMI MS6 - Guide for Design and Materials for Interfacing Microfluidic Systems
SEMI MS6 - Guide for Design and Materials for Interfacing Microfluidic Systems Sale priceMember Price: €113,00
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G09000 - SEMI G90 - テスト・パッケージング工程用300mmウェーハコインスタック型出荷容器の仕様
SEMI G90 - テスト・パッケージング工程用300mmウェーハコインスタック型出荷容器の仕様 Sale priceMember Price: €135,00
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M07400 - SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様
SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様 Sale priceMember Price: €135,00
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D04600 - SEMI D46 - 平面顯示器偏光膜的專用術語
SEMI D46 - 平面顯示器偏光膜的專用術語 Sale priceMember Price: €113,00
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F07900 - SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド
SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド Sale priceMember Price: €135,00
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G06400 - SEMI G64 - 全面めっきIC用リードフレーム（金，銀，銅，ニッケル，パラジウム/ニッケル，およびパラジウム）の仕様
SEMI G64 - 全面めっきIC用リードフレーム（金，銀，銅，ニッケル，パラジウム/ニッケル，およびパラジウム）の仕様 Sale priceMember Price: €135,00
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F05600 - SEMI F56 - マスフローコントローラの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法
SEMI F56 - マスフローコントローラの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法 Sale priceMember Price: €135,00
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