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P02000 - SEMI P20 - EBレジストパラメータのカタログ公表のガイドライン（提案）
SEMI P20 - EBレジストパラメータのカタログ公表のガイドライン（提案） Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P00300 - SEMI P3 - Specification for Photoresist/E-Beam Resist for Hard Surface Photoplates
SEMI P3 - Specification for Photoresist/E-Beam Resist for Hard Surface Photoplates Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G04400 - SEMI G44 - Specification for Lead Finishes for Glass to Metal Seal Ceramic Packages (Active Devices Only)
SEMI G44 - Specification for Lead Finishes for Glass to Metal Seal Ceramic Packages (Active Devices Only) Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01300 - SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中におけるナトリウムとカリウムの測定
SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中におけるナトリウムとカリウムの測定 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M07600 - SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers
SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers Regular price₩451,000 KRW Sale price₩290,000 KRW
M05600 - SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法
SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P01100 - SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のテスト方法
SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のテスト方法 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G06900 - SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間の接着強度の測定の試験方法
SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間の接着強度の測定の試験方法 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M03800 - SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様
SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M02300 - SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様
SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M00900 - SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様
SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M02400 - SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様
SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
C00357 - SEMI C3.57 - シリンダ中の電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様
SEMI C3.57 - シリンダ中の電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M07300 - SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法
SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P02600 - SEMI P26 - フォトレジストの感度測定用パラメータチェックリスト
SEMI P26 - フォトレジストの感度測定用パラメータチェックリスト Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M05200 - SEMI M52 - 130 nm，90nm，65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド
SEMI M52 - 130 nm，90nm，65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P03400 - SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M03400 - SEMI M34 - Guide for Specifying SIMOX Wafers
SEMI M34 - Guide for Specifying SIMOX Wafers Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F01500 - SEMI F15 - 筐体の試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行
SEMI F15 - 筐体の試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M01200 - SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様
SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P02800 - SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン
SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
C04500 - SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様
SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
D02200 - SEMI D22 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片總成顏色透光度計算之測試法
SEMI D22 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片總成顏色透光度計算之測試法 Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
D06300 - SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法
SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
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