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F05500 - SEMI F55 - マスフローコントローラの耐腐食性を求めるための試験方法
SEMI F55 - マスフローコントローラの耐腐食性を求めるための試験方法 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
P01800 - SEMI P18 - ウェーハステッパーのオーバーレイ能力
SEMI P18 - ウェーハステッパーのオーバーレイ能力 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
D03800 - SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド
SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド Sale priceMember Price: ₩135
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D00600 - SEMI D6 - LCDマスク基板の仕様
SEMI D6 - LCDマスク基板の仕様 Sale priceMember Price: ₩135
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M05500 - SEMI M55 - 鏡面単結晶シリコンカーバイドウェーハの仕様
SEMI M55 - 鏡面単結晶シリコンカーバイドウェーハの仕様 Sale priceMember Price: ₩135
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M01400 - SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様）
SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様） Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G00800 - SEMI G8 - Test Method for Gold Plating
SEMI G8 - Test Method for Gold Plating Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F04200 - SEMI F42 - Test Method for Semiconductor Processing Equipment Voltage Sag Immunity
SEMI F42 - Test Method for Semiconductor Processing Equipment Voltage Sag Immunity Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
P01100 - SEMI P11 - Test Method for Determination of Total Normality for Alkaline Developer Solutions
SEMI P11 - Test Method for Determination of Total Normality for Alkaline Developer Solutions Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G05900 - SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染物の測定方法
SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染物の測定方法 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G05600 - SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法
SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法 Sale priceMember Price: ₩135
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C00340 - SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4），99.997%品質の仕様
SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4），99.997%品質の仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G08500 - SEMI G85 - Specification for Map Data Format
SEMI G85 - Specification for Map Data Format Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G06000 - SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法
SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
MF039800 - SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum
SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02600 - SEMI F26 - グレード10/0.2　有毒特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F26 - グレード10/0.2　有毒特殊ガスの粒子に関する仕様 Sale priceMember Price: ₩135
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MF170800 - SEMI MF1708 - Practice for Evaluation of Granular Polysilicon by Melter-Zoner Spectroscopies
SEMI MF1708 - Practice for Evaluation of Granular Polysilicon by Melter-Zoner Spectroscopies Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
D01300 - SEMI D13 - FPD用カラーフィルタの用語
SEMI D13 - FPD用カラーフィルタの用語 Sale priceMember Price: ₩135
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P02700 - SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメータチェックリスト
SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメータチェックリスト Sale priceMember Price: ₩135
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M07600 - SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様
SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様 Regular price₩540,000 KRW Sale price₩347,000 KRW
P02100 - SEMI P21 - Guidelines for Precision and Accuracy Expression for Mask Writing Equipment
SEMI P21 - Guidelines for Precision and Accuracy Expression for Mask Writing Equipment Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G01800 - SEMI G18 - エッチングリードフレームの製造に使用する集積回路用リードフレーム材料のためのスタンダード
SEMI G18 - エッチングリードフレームの製造に使用する集積回路用リードフレーム材料のためのスタンダード Sale priceMember Price: ₩135
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S00200 - SEMI S2 - 半導体製造装置の環境，健康，安全に関するガイドライン
SEMI S2 - 半導体製造装置の環境，健康，安全に関するガイドライン Sale priceMember Price: ₩270
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E05200 - SEMI E52 - Practice for Referencing Gases, Gas Mixtures, and Vaporizable Materials Used in Digital Mass Flow Controllers
SEMI E52 - Practice for Referencing Gases, Gas Mixtures, and Vaporizable Materials Used in Digital Mass Flow Controllers Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
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