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P00900 - SEMI P9 - マイクロエレクトロニクス用レジストの機能的なテスト（ガイドライン）
SEMI P9 - マイクロエレクトロニクス用レジストの機能的なテスト（ガイドライン） Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01000 - SEMI P10 - Specification of Data Structures for Photomask Orders
SEMI P10 - Specification of Data Structures for Photomask Orders Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01000 - SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様
SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01100 - SEMI P11 - Test Method for Determination of Total Normality for Alkaline Developer Solutions
SEMI P11 - Test Method for Determination of Total Normality for Alkaline Developer Solutions Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01100 - SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のテスト方法
SEMI P11 - アルカリ現像溶液に対する全規定度の測定のテスト方法 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01200 - SEMI P12 - Determination of Iron, Zinc, Calcium, Magnesium, Copper, Boron, Aluminum, Chromium, Manganese, and Nickel in Positive Photoresists by Inductively Coupled Plasma Emission Spectroscopy (ICP)
SEMI P12 - Determination of Iron, Zinc, Calcium, Magnesium, Copper, Boron, Aluminum, Chromium, Manganese, and Nickel in Positive Photoresists by Inductively Coupled Plasma Emission Spectroscopy (ICP) Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄，亜鉛，カルシウム，マグネシウム，銅，ホウ素，アルミニウム，クロム，マンガン，及びニッケルの測定
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄，亜鉛，カルシウム，マグネシウム，銅，ホウ素，アルミニウム，クロム，マンガン，及びニッケルの測定 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01300 - SEMI P13 - Determination of Sodium and Potassium in Positive Photoresists by Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI P13 - Determination of Sodium and Potassium in Positive Photoresists by Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01300 - SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中におけるナトリウムとカリウムの測定
SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中におけるナトリウムとカリウムの測定 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01400 - SEMI P14 - Determination of Tin in Positive Photoresists by Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI P14 - Determination of Tin in Positive Photoresists by Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01400 - SEMI P14 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中の錫の測定
SEMI P14 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中の錫の測定 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01500 - SEMI P15 - Determination of Sodium and Potassium in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI P15 - Determination of Sodium and Potassium in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01500 - SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液中のナトリウムとカリウムの測定
SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液中のナトリウムとカリウムの測定 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01600 - SEMI P16 - Determination of Tin in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI P16 - Determination of Tin in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01600 - SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液中の錫の測定
SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液中の錫の測定 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01700 - SEMI P17 - Determination of Iron, Zinc, Calcium, Magnesium, Copper, Boron, Aluminum, Chromium, Manganese, and Nickel in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Inductively Coupled Plasma Emission Spectroscopy (ICP)
SEMI P17 - Determination of Iron, Zinc, Calcium, Magnesium, Copper, Boron, Aluminum, Chromium, Manganese, and Nickel in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Inductively Coupled Plasma Emission Spectroscopy (ICP) Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液における鉄，亜鉛，カルシウム，マグネシウム，銅，ホウ素，アルミニウム，クロム，マンガン，およびニッケルの測定
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・メタルイオンフリー（MIF）現像液における鉄，亜鉛，カルシウム，マグネシウム，銅，ホウ素，アルミニウム，クロム，マンガン，およびニッケルの測定 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01800 - SEMI P18 - Specification for Overlay Capabilities of Wafer Steppers
SEMI P18 - Specification for Overlay Capabilities of Wafer Steppers Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01800 - SEMI P18 - ウェーハステッパーのオーバーレイ能力
SEMI P18 - ウェーハステッパーのオーバーレイ能力 Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P01900 - SEMI P19 - Specification for Metrology Pattern Cells for Integrated Circuit Manufacture
SEMI P19 - Specification for Metrology Pattern Cells for Integrated Circuit Manufacture Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P01900 - SEMI P19 - 集積回路製造用メトロロジパターンセル
SEMI P19 - 集積回路製造用メトロロジパターンセル Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P02000 - SEMI P20 - EBレジストパラメータのカタログ公表のガイドライン（提案）
SEMI P20 - EBレジストパラメータのカタログ公表のガイドライン（提案） Sale priceMember Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
P02000 - SEMI P20 - Guideline for Catalog Publication of EB Resist Parameters (Proposal)
SEMI P20 - Guideline for Catalog Publication of EB Resist Parameters (Proposal) Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
P02100 - SEMI P21 - Guidelines for Precision and Accuracy Expression for Mask Writing Equipment
SEMI P21 - Guidelines for Precision and Accuracy Expression for Mask Writing Equipment Sale priceMember Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000