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P02500 - SEMI P25 - 焦点深度および最適焦点深度（仕様）
SEMI P25 - 焦点深度および最適焦点深度（仕様） Sale priceMember Price: ¥135
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P01700 - SEMI P17 - Determination of Iron, Zinc, Calcium, Magnesium, Copper, Boron, Aluminum, Chromium, Manganese, and Nickel in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Inductively Coupled Plasma Emission Spectroscopy (ICP)
SEMI P17 - Determination of Iron, Zinc, Calcium, Magnesium, Copper, Boron, Aluminum, Chromium, Manganese, and Nickel in Positive Photoresist Metal Ion Free (MIF) Developers by Inductively Coupled Plasma Emission Spectroscopy (ICP) Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04700 - SEMI M47 - Specification for Silicon-on-Insulator (SOI) Wafers for CMOS LSI Applications
SEMI M47 - Specification for Silicon-on-Insulator (SOI) Wafers for CMOS LSI Applications Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F04500 - SEMI F45 - 機械加工されたステンレス鋼製異径溶接継手の仕様
SEMI F45 - 機械加工されたステンレス鋼製異径溶接継手の仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G03000 - SEMI G30 - Test Method for Junction-to-Case Thermal Resistance Measurements of Ceramic Packages
SEMI G30 - Test Method for Junction-to-Case Thermal Resistance Measurements of Ceramic Packages Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C02500 - SEMI C25 - Specification for Dichloromethane (Methylene Chloride)
SEMI C25 - Specification for Dichloromethane (Methylene Chloride) Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M02000 - SEMI M20 - ウェーハ座標システムの確立の作業方法
SEMI M20 - ウェーハ座標システムの確立の作業方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M00600 - SEMI M6 - Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells
SEMI M6 - Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08400 - SEMI G84 - Specification for Strip Map Protocol
SEMI G84 - Specification for Strip Map Protocol Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01800 - SEMI M18 - シリコンウェーハ発注仕様書開発のガdイド
SEMI M18 - シリコンウェーハ発注仕様書開発のガdイド Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02600 - SEMI P26 - Parameter Checklist for Photoresist Sensitivity Measurement
SEMI P26 - Parameter Checklist for Photoresist Sensitivity Measurement Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03200 - SEMI P32 - フォトレジスト中のトレースメタル定量のための試験方法
SEMI P32 - フォトレジスト中のトレースメタル定量のための試験方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C07700 - SEMI C77 - 最小可測粒径が30nmから100nmの範囲にある液中パーティクルカウンタの計数効率を求める試験方法
SEMI C77 - 最小可測粒径が30nmから100nmの範囲にある液中パーティクルカウンタの計数効率を求める試験方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07800 - SEMI M78 - 量産時における130nmから22nm世代のパターンなしシリコンウェーハ上のナノトポグラフィー決定に関するガイド
SEMI M78 - 量産時における130nmから22nm世代のパターンなしシリコンウェーハ上のナノトポグラフィー決定に関するガイド Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02600 - SEMI M26 - ウェーハの運搬に使用される100 mm，125 mm，150 mm，200 mmウェーハシッピングボックスの再利用ガイド
SEMI M26 - ウェーハの運搬に使用される100 mm，125 mm，150 mm，200 mmウェーハシッピングボックスの再利用ガイド Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00700 - SEMI P7 - Test Method of Viscosity Determination, Method A - Kinematic Viscosity
SEMI P7 - Test Method of Viscosity Determination, Method A - Kinematic Viscosity Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF216600 - SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers
SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01400 - SEMI M14 - Specification for Ion Implantation and Activation Process for Semi-Insulating Gallium Arsenide Single Crystals
SEMI M14 - Specification for Ion Implantation and Activation Process for Semi-Insulating Gallium Arsenide Single Crystals Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02700 - SEMI P27 - Parameter Checklist for Resist Thickness Measurement on a Substrate
SEMI P27 - Parameter Checklist for Resist Thickness Measurement on a Substrate Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02900 - SEMI F29 - ガスソースシステムパネルのパージ効果のテスト方法
SEMI F29 - ガスソースシステムパネルのパージ効果のテスト方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
S03000 - SEMI S30 - Safety Guideline for Use of Energetic Materials in Semiconductor R&D and Manufacturing Processes
SEMI S30 - Safety Guideline for Use of Energetic Materials in Semiconductor R&D and Manufacturing Processes Sale priceMember Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
M05300 - SEMI M53 - パターンのない半導体ウェーハ表面上に証明済み手法で付着した単分散標準粒子を用いた走査型表面検査システム較正の作業方法
SEMI M53 - パターンのない半導体ウェーハ表面上に証明済み手法で付着した単分散標準粒子を用いた走査型表面検査システム較正の作業方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00100 - SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板
SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F02100 - SEMI F21 - 清浄な環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類
SEMI F21 - 清浄な環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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