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MS00900 - SEMI MS9 - Specification for High Density Permanent Connections Between Microfluidic Devices
SEMI MS9 - Specification for High Density Permanent Connections Between Microfluidic Devices Regular price¥49,500 JPY Sale price¥31,900 JPY
M05000 - SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法
SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04600 - SEMI P46 - Specification for Critical Dimension (CD) Measurement Information Data on Photomask by XML
SEMI P46 - Specification for Critical Dimension (CD) Measurement Information Data on Photomask by XML Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06800 - SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージのジャンクション部とケース間の熱抵抗測定の試験方法
SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージのジャンクション部とケース間の熱抵抗測定の試験方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F06200 - SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法
SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07500 - SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様
SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01500 - SEMI M15 - Polished Wafer Defect Limits Table for Semi-Insulating Gallium Arsenide Wafers
SEMI M15 - Polished Wafer Defect Limits Table for Semi-Insulating Gallium Arsenide Wafers Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09400 - SEMI G94 - 300mmウェーハ用コインスタック型テープフレーム出荷容器の仕様
SEMI G94 - 300mmウェーハ用コインスタック型テープフレーム出荷容器の仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M05700 - SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様
SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M04900 - SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド
SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02300 - SEMI P23 - Guidelines for Programmed Defect Masks and Benchmark Procedures for Sensitivity Analysis of Mask Defect Inspection Systems
SEMI P23 - Guidelines for Programmed Defect Masks and Benchmark Procedures for Sensitivity Analysis of Mask Defect Inspection Systems Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04500 - SEMI M45 - 300 mmウェーハシッピングシステムに関する暫定仕様
SEMI M45 - 300 mmウェーハシッピングシステムに関する暫定仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C07100 - SEMI C71 - 三塩化ホウ素（BCI3）の仕様およびガイド
SEMI C71 - 三塩化ホウ素（BCI3）の仕様およびガイド Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
PV00400 - SEMI PV4 - Specification for Range of 5th Generation Substrate Sizes for Thin Film Photovoltaic Applications
SEMI PV4 - Specification for Range of 5th Generation Substrate Sizes for Thin Film Photovoltaic Applications Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03200 - SEMI P32 - Test Method for Determination of Trace Metals in Photoresist
SEMI P32 - Test Method for Determination of Trace Metals in Photoresist Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C03800 - SEMI C38 - Guide for Phosphorus Oxychloride
SEMI C38 - Guide for Phosphorus Oxychloride Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03600 - SEMI M36 - Test Method for Measuring Etch Pit Density (EPD) in Low Dislocation Density Gallium Arsenide Wafers
SEMI M36 - Test Method for Measuring Etch Pit Density (EPD) in Low Dislocation Density Gallium Arsenide Wafers Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03400 - SEMI M34 - SIMOXウェーハを規定するための指針
SEMI M34 - SIMOXウェーハを規定するための指針 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥29,700
F09800 - SEMI F98 - 半導体プロセスにおける用水再処理のためのガイド
SEMI F98 - 半導体プロセスにおける用水再処理のためのガイド Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04100 - SEMI P41 - Specification for Mask Defect Data Handling with XML, Between Defect Inspection Tools, Repair Tools, and Review Tools
SEMI P41 - Specification for Mask Defect Data Handling with XML, Between Defect Inspection Tools, Repair Tools, and Review Tools Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08600 - SEMI G86 - シリコンチップ（ダイ）の三点曲げテスト方法
SEMI G86 - シリコンチップ（ダイ）の三点曲げテスト方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G08000 - SEMI G80 - Test Method for the Analysis of Overall Digital Timing Accuracy for Automated Test Equipment
SEMI G80 - Test Method for the Analysis of Overall Digital Timing Accuracy for Automated Test Equipment Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04800 - SEMI M48 - Guide for Evaluating Chemical-Mechanical Polishing Processes of Films on Unpatterned Silicon Substrates
SEMI M48 - Guide for Evaluating Chemical-Mechanical Polishing Processes of Films on Unpatterned Silicon Substrates Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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