Latest Standards

Filters

Sort by:

1638 products

P03000 - SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領
SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G08500 - SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様
SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M06700 - SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR，ESFQD，ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR，ESFQD，ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M04300 - SEMI M43 - ウェーハナノポトグラフィを報告するためのガイド
SEMI M43 - ウェーハナノポトグラフィを報告するためのガイド Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02900 - SEMI M29 - Specification for 300 mm Shipping Box
SEMI M29 - Specification for 300 mm Shipping Box Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D01700 - SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様
SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G06600 - SEMI G66 - 半導体用プラスチックモールディングコンパウンドの吸湿特性の測定方法
SEMI G66 - 半導体用プラスチックモールディングコンパウンドの吸湿特性の測定方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G04200 - SEMI G42 - 半導体パッケージのジャンクション部と周囲間の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様
SEMI G42 - 半導体パッケージのジャンクション部と周囲間の熱抵抗測定用標準熱抵抗測定基板の仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03700 - SEMI M37 - Test Method for Measuring Etch Pit Density (EPD) in Low Dislocation Density Indium Phosphide Wafers
SEMI M37 - Test Method for Measuring Etch Pit Density (EPD) in Low Dislocation Density Indium Phosphide Wafers Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03300 - SEMI M33 - Test Method for the Determination of Residual Surface Contamination on Silicon Wafers by Means of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy (TXRF)
SEMI M33 - Test Method for the Determination of Residual Surface Contamination on Silicon Wafers by Means of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy (TXRF) Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF039900 - SEMI MF399 - Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers
SEMI MF399 - Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D03100 - SEMI D31 - FPD画質検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義
SEMI D31 - FPD画質検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MF053400 - SEMI MF534 - Test Method for Bow of Silicon Wafers
SEMI MF534 - Test Method for Bow of Silicon Wafers Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C00339 - SEMI C3.39 - 三フッ化窒素（NF3）99.98%品質の仕様
SEMI C3.39 - 三フッ化窒素（NF3）99.98%品質の仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03900 - SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法
SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03000 - SEMI M30 - Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Concentration in GaAs by Fourier Transform Infrared Absorption Spectroscopy
SEMI M30 - Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Concentration in GaAs by Fourier Transform Infrared Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00600 - SEMI P6 - Specification for Registration Marks for Photomasks
SEMI P6 - Specification for Registration Marks for Photomasks Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06700 - SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法
SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G07900 - SEMI G79 - Specification for Overall Digital Timing Accuracy
SEMI G79 - Specification for Overall Digital Timing Accuracy Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C04000 - SEMI C40 - 水酸化カリウム45%溶液の仕様
SEMI C40 - 水酸化カリウム45%溶液の仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00600 - SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク
SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01900 - SEMI P19 - 集積回路製造用メトロロジパターンセル
SEMI P19 - 集積回路製造用メトロロジパターンセル Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04200 - SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ伝送のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ伝送のためのレチクルデータの仕様 Sale priceMember Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03700 - SEMI P37 - Specification for Extreme Ultraviolet Lithography Substrates and Blanks
SEMI P37 - Specification for Extreme Ultraviolet Lithography Substrates and Blanks Sale priceMember Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
View All