SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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F04000 - SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法
SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法 Sale priceMember Price: $135.00
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C05200 - SEMI C52 - 特殊ガスの貯蔵寿命に関する仕様
SEMI C52 - 特殊ガスの貯蔵寿命に関する仕様 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
C02800 - SEMI C28 - フッ化ケイ素酸の仕様
SEMI C28 - フッ化ケイ素酸の仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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D00900 - SEMI D9 - FPD基板の用語
SEMI D9 - FPD基板の用語 Sale priceMember Price: $135.00
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F10100 - SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法
SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
M08100 - SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド
SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド Sale priceMember Price: $135.00
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M00800 - SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様
SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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M06200 - SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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M03200 - SEMI M32 - Guide to Statistical Specifications
SEMI M32 - Guide to Statistical Specifications Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
G08900 - SEMI G89 - リードフレームのストリップ寸法の規格
SEMI G89 - リードフレームのストリップ寸法の規格 Sale priceMember Price: $135.00
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MF172400 - SEMI MF1724 - Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI MF1724 - Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: $113.00
Non-Member Price: $193.00
C0700 - SEMI C70 - 六フッ化タングステン（WF6）の仕様
SEMI C70 - 六フッ化タングステン（WF6）の仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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F02300 - SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様 Sale priceMember Price: $135.00
Non-Member Price: $231.00
D03000 - SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法
SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
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C00358 - SEMI C3.58 - 八フッ化シクロブタン（C4F8），電子グレード，シリンダ充填，品質99.999%の仕様
SEMI C3.58 - 八フッ化シクロブタン（C4F8），電子グレード，シリンダ充填，品質99.999%の仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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M01000 - SEMI M10 - ガリウムヒ素ウェーハに見られる構造及び特徴の確認のための標準名称
SEMI M10 - ガリウムヒ素ウェーハに見られる構造及び特徴の確認のための標準名称 Sale priceMember Price: $135.00
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G02300 - SEMI G23 - 半導体パッケージの内部導体路のインダクタンスのための試験方法
SEMI G23 - 半導体パッケージの内部導体路のインダクタンスのための試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
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G09000 - SEMI G90 - テスト・パッケージング工程用300mmウェーハコインスタック型出荷容器の仕様
SEMI G90 - テスト・パッケージング工程用300mmウェーハコインスタック型出荷容器の仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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M07400 - SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様
SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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D04600 - SEMI D46 - 平面顯示器偏光膜的專用術語
SEMI D46 - 平面顯示器偏光膜的專用術語 Sale priceMember Price: $113.00
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F07900 - SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド
SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド Sale priceMember Price: $135.00
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G06400 - SEMI G64 - 全面めっきIC用リードフレーム（金，銀，銅，ニッケル，パラジウム/ニッケル，およびパラジウム）の仕様
SEMI G64 - 全面めっきIC用リードフレーム（金，銀，銅，ニッケル，パラジウム/ニッケル，およびパラジウム）の仕様 Sale priceMember Price: $135.00
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F05600 - SEMI F56 - マスフローコントローラの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法
SEMI F56 - マスフローコントローラの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法 Sale priceMember Price: $135.00
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M02600 - SEMI M26 - Guide for the Re-Use of 100, 125, 150, and 200 mm Wafer Shipping Boxes Used to Transport Wafers
SEMI M26 - Guide for the Re-Use of 100, 125, 150, and 200 mm Wafer Shipping Boxes Used to Transport Wafers Sale priceMember Price: $113.00
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